Skip to content
  • Рус
  • Eng
|  info@technoinfo.ru |
+7 499 270-66-26
Надежный партнер в передовых научных исследованиях
  • Каталог
  • Новости
  • Проекты
  • Партнеры
  • Сервис
  • О компании
  • Контакты
  • Анализ поверхности
    • Электронная микроскопия
      • Сканирующие электронные микроскопы (SEM)
      • Просвечивающие электронные микроскопы (TEM)
      • Двулучевые микроскопы (SEM/FIB)
      • Системы фокусированного ионного пучка (FIB)
      • Решения для геологии
      • Программное обеспечение (SW)
    • Вторичная ионная масс-спектрометрия
    • Оборудование для рентгеновской электронной спектроскопии
    • Оборудование для спектроскопии методом рассеяния медленных ионов
    • Оптическая микроскопия
  • Исследование структуры и химического состава
    • Оборудование для монокристальной рентгеновской дифракции
      • Оборудование для рентгеноструктурного анализа белков
      • Дифрактометры для изучения малых молекул
      • Дополнительное оборудование
    • Системы малоуглового и широкоуглового рассеяния рентгеновских лучей
    • Оптическая спектроскопия
      • Спектрометры кругового дихроизма
      • Флуоресцентные спектрометры
      • Электроника и детекторы для единичного счета фотонов (TCSPC)
  • Биология и биотехнология
    • Электронная микроскопия
      • Сканирующая электронная микроскопия
      • Просвечивающая электронная микроскопия
      • Криоэлектронная микроскопия
      • Пробоподготовка для электронной микроскопии
    • Оптическая спектроскопия
      • Флуоресцентная спектроскопия
      • Спектроскопия кругового дихроизма
      • Спектроскопия остановленного потока
      • Системы анализа аффинности, стабильности и качества белков
    • Оптическая микроскопия new
      • Многопараметрический скрининг и биоимиджинг
      • FLIM и STED микроскопы
      • Счетчики клеток
    • Монокристальная дифрактометрия
    • Системы отбора клонов и электрофизиология
      • Системы отбора клонов
      • Электрофизиология
    • Томография
    • Рентген
  • Микро- и нано-электроника
    • Электронная литография
    • Плазмохимическое и физическое травление и осаждение
    • Ионная имплантация
  • Геология и петрофизика
    • Документация керна
    • Томография керна
    • Автоматизированный минералогический и петрографический анализ
    • Портативные XRF и XRD анализаторы
    • ПО «PerGeos» для Цифрового Анализа Пород
    • Геохимия и геохронология
  • Технологическое оборудование
    • Криогенная техника
    • Термообработка
  • Рамановская микроскопия
  • Конфокальная микроскопия
  • Рамановская спектроскопия
  • Анализ поверхности
  • Исследование структуры и химического состава
  • Биология и биотехнология
  • Микро- и нано-электроника
    • Электронная литография
    • Плазмохимическое и физическое травление и осаждение
      • Оборудование для плазмохимического и физического травления и осаждения
      • Технологии плазмохимического и физического травления и осаждения
      • Технологические процессы
    • Ионная имплантация
  • Геология
  • Технологическое оборудование
/ Каталог / Микро- и нано-электроника / Плазмохимическое и физическое травление и осаждение / Технологические процессы / Процессы магнетронного распыления

Процессы магнетронного распыления

Al — ITO — Ti — TiN — Si — Cu

Магнетронное распыление алюминия (Al)

Оксид индия, легированный оловом (ITO)

Распыление нитрида титана (TiN)

Магнетронное распыление Титана (Ti)

Магнетронное распыление кремния (Si)

Напыление меди (Cu)

Напыление сплошной пленки (3мкм) меди на тренч с аспектным соотношением 5:1

Техноинфо
  • Каталог
  • О компании
  • Сервис
  • Проекты
  • Партнеры
  • Новости
  • Контакты
+7 499 270-66-26

107241 г. Москва, Щёлковское шоссе, д. 23А, комнаты 38, 39, 40

info@technoinfo.ru
Напишите нам

* отмечены поля обязательные для заполнения

    captcha


    Copyright © 2007– 2022 ООО «Техноинфо Лтд»
    Политика конфиденциальности
    Написать директору



      captcha


      Запрос коммерческого предложения

      Tecnai™ Просвечивающий электронный

      * отмечены поля обязательные для заполнения






        captcha


        Обратный звонок

        * отмечены поля обязательные для заполнения



          captcha


          Запрос сервисной поддержки

          Tecnai™ Просвечивающий электронный

          * отмечены поля обязательные для заполнения






            captcha


            Запрос отправлен
            Запрос дополнительной информации по оборудованию

             





              captcha