Skip to content
|  info@technoinfo.ru |
+7 499 270-66-26
  • Каталог
  • Новости
  • Проекты
  • Партнеры
  • Сервис
  • O компании
  • Контакты
  • Анализ поверхности
    • Электронная микроскопия
      • Сканирующие электронные микроскопы (SEM)
      • Просвечивающие электронные микроскопы (TEM)
      • Двулучевые микроскопы (SEM/FIB)
      • Системы фокусированного ионного пучка (FIB)
      • Решения для геологии
      • Программное обеспечение (SW)
    • Вторичная ионная масс-спектрометрия
    • Оборудование для рентгеновской электронной спектроскопии
    • Оборудование для спектроскопии методом рассеяния медленных ионов
    • Оптическая микроскопия
  • Исследование структуры и химического состава
    • Монокристальные дифрактометры
      • Оборудование для рентгеноструктурного анализа белков
      • Дифрактометры для изучения малых молекул
      • Дополнительное оборудование
    • Малоугловые дифрактометры
    • Оптическая спектроскопия
      • Флуоресцентные спектрометры
      • Электроника и детекторы для единичного счета фотонов (TCSPC)
    • Спектрометры кругового дихроизма
  • Биология и биотехнология
    • Электронная микроскопия
      • Сканирующая электронная микроскопия
      • Просвечивающая электронная микроскопия
      • Пробоподготовка для электронной микроскопии
    • Криоэлектронная микроскопия
    • Оптическая спектроскопия
      • Флуоресцентная спектроскопия
      • Спектроскопия кругового дихроизма
      • Спектроскопия остановленного потока
    • Оптическая микроскопия
      • Системы анализа аффинности и стабильности белков
      • Многопараметрический скрининг и биоимиджинг
      • FLIM и STED микроскопы
      • Счетчики клеток
    • Монокристальная дифрактометрия
    • Системы отбора клонов и электрофизиология
      • Системы отбора клонов
      • Электрофизиология
    • Томография
    • Рентген
  • Микро- и нано-электроника
    • Электронная литография
    • Плазмохимическое и физическое травление и осаждение
    • Ионная имплантация
  • Геология и петрофизика
    • Документация керна
    • Томографы
    • Оптические спектрометры
    • Рентгенофлуоресцентные анализаторы
    • Гранулометры
    • Пробоподготовка
  • Технологическое оборудование
    • Криогенная техника
    • Термообработка
  • Рамановская микроскопия
  • Конфокальная микроскопия
  • Рамановская спектроскопия
  • Анализ поверхности
  • Исследование структуры и химического состава
    • Оборудование для инфракрасной спектроскопии/инфракрасной микроскопии
    • Монокристальные дифрактометры
    • Малоугловые дифрактометры
    • Оптическая спектроскопия
      • Спектрометры кругового дихроизма
      • Рамановская спектроскопия
      • Флуоресцентные спектрометры
      • Электроника и детекторы для единичного счета фотонов (TCSPC)
  • Биология и биотехнология
  • Микро- и нано-электроника
  • Геология
  • Технологическое оборудование
/ Каталог / Исследование структуры и химического состава / Оптическая спектроскопия / Рамановская спектроскопия

Рамановская спектроскопия

Системы микрорамановского анализа производства Nanobase.

Техноинфо
  • Каталог
  • О компании
  • Сервис
  • Проекты
  • Партнеры
  • Новости
  • Контакты
+7 499 270-66-26

107241 г. Москва, Щёлковское шоссе, д. 23А, комнаты 38, 39, 40

info@technoinfo.ru
Напишите нам

* отмечены поля обязательные для заполнения

    captcha


    Copyright © 2007– 2023 ООО «Техноинфо Лтд»
    Политика конфиденциальности
    Написать директору



      captcha


      Запрос коммерческого предложения

      Tecnai™ Просвечивающий электронный

      * отмечены поля обязательные для заполнения








        captcha


        Обратный звонок

        * отмечены поля обязательные для заполнения



          captcha


          Запрос сервисной поддержки

          Tecnai™ Просвечивающий электронный

          * отмечены поля обязательные для заполнения






            captcha


            Запрос отправлен
            Регистрация на вебинар






              captcha


              Запрос дополнительной информации по оборудованию





                captcha