Оборудование для рентгеновской электронной спектроскопии
Каталог оборудования для проведения рентгеновской электронной спектроскопии наноструктур и анализа поверхности образцов. Системы спектроскопии могут использоваться как в научно-исследовательских целях, так и на производстве (например, в составе систем контроля качества выпускаемой продукции).
AXIS Supra
Производство: Kratos Analytical
Рентгеновский фотоэлектронный спектрометр, объединяющий в себе передовые характеристики и легкость в работе, обеспеченную новым программным обеспечением ESCApe и автоматизированным трансфером образцов.
AXIS Supra является улучшенной и дополненной моделью, которая полностью заменила известный спектрометр AXIS Ultra.
Axis Nova
Производство: Kratos Analytical
AXIS Nova — высокоавтоматизированный рентгеновский фотоэлектронный спектрометр.
ПО ESCApe
Производство: Kratos Analytical
Полностью обновленное программное обеспечение ESCApe для оперативной системы MS Windows.
Minibeam 4, 5, 6
Производство: Kratos Analytical
Большой выбор ионных источников для построения профилей распределения по глубине элементов и их химических состояний как для неорганических, так и органических образцов.
GCIS
Производство: Kratos Analytical
Источник кластерных ионов аргона (GCIS) компании Kratos позволяет получать превосходные результаты профилирования по глубине с высоким разрешением как для органических материалов в режиме травления кластерами Arn+ так и для неорганических соединений в моноатомном режиме Ar+.