[:ru]AXIS Supra[:]

Производство: Kratos Analytical

[:ru]

Рентгеновский фотоэлектронный спектрометр, объединяющий в себе передовые характеристики и легкость в работе, обеспеченную новым программным обеспечением ESCApe и автоматизированным трансфером образцов. AXIS Supra является улучшенной и дополненной моделью, которая полностью заменила известный спектрометр AXIS Ultra.

[:en]Рентгеновский фотоэлектронный спектрометр, объединяющий в себе передовые характеристики и легкость в работе, обеспеченную новым программным обеспечением ESCApe и автоматизированным трансфером образцов. AXIS Supra является улучшенной и дополненной моделью, которая полностью заменила известный спектрометр AXIS Ultra.[:]

[:ru]Axis Nova[:]

Производство: Kratos Analytical

[:ru]

Высокоавтоматизированный рентгеновский фотоэлектронный спектрометр AXIS Nova позволяет проводить исследования образцов диаметром до 11 см с превосходным разрешением и отличной чувствительностью.

[:en]Высокоавтоматизированный рентгеновский фотоэлектронный спектрометр AXIS Nova позволяет проводить исследования образцов диаметром до 11 см с превосходным разрешением и отличной чувствительностью.[:]

[:ru]ПО ESCApe[:]

Производство: Kratos Analytical

[:ru]

Полностью обновленное программное обеспечение ESCApe является последним поколением программного обеспечения для оперативной системы MS Windows, которое осуществляет управление спектрометром, сбор и обработку полученных данных в едином и простом в использовании пакете.

[:en]Полностью обновленное программное обеспечение ESCApe является последним поколением программного обеспечения для оперативной системы MS Windows, которое осуществляет управление спектрометром, сбор и обработку полученных данных в едином и простом в использовании пакете.[:]

[:ru]Minibeam 4, 5, 6[:]

Производство: Kratos Analytical

[:ru]

Большой выбор ионных источников для построения профилей распределения по глубине элементов и их химических состояний как для неорганических, так и органических образцов.

[:en]Большой выбор ионных источников для построения профилей распределения по глубине элементов и их химических состояний как для неорганических, так и органических образцов.[:]

[:ru]GCIS[:]

Производство: Kratos Analytical

[:ru]

Источник ионов последнего поколения Источник кластерных ионов аргона (GCIS) компании Kratos позволяет получать превосходные результаты профилирования по глубине с высоким разрешением как для органических материалов в режиме травления кластерами Arn+ так и для неорганических соединений в моноатомном режиме Ar+ .

[:en]Источник ионов последнего поколения Источник кластерных ионов аргона (GCIS) компании Kratos позволяет получать превосходные результаты профилирования по глубине с высоким разрешением как для органических материалов в режиме травления кластерами Arn+ так и для неорганических соединений в моноатомном режиме Ar+ .[:]