Вторичная ионная масс-спектрометрия
Каталог оборудования для время-пролетной вторичной ионной масс- спектрометрии.
TOF.SIMS 5
Производство: ION-TOF
Масс-спектрометр вторичных ионов TOF.SIMS 5 предоставляет детальную информацию об элементном и молекулярном составе поверхности и приповерхностных слоях образца.
TOF.SIMS M6
Производство: ION-TOF
Новейший времяпролетный масс-спектрометр вторичных ионов шестого поколения от ION TOF GmbH
TOF.SIMS M6 Plus
Производство: ION-TOF
Масс-спектрометр TOF.SIMS M6 с интегрированным атомно-силовым микроскопом.