Вторичная ионная масс-спектрометрия
TOF.SIMS 5
Производство: ION-TOF
TOF.SIMS 5 предоставляет детальную информацию об элементном и молекулярном составе поверхности и приповерхностных слоях образца.
TOF.SIMS M6
Производство: ION-TOF
Новейший времяпролетный масс-спектрометр вторичных ионов шестого поколения от ION TOF GmbH
TOF.SIMS M6 Plus
Производство: ION-TOF
Масс-спектрометр TOF.SIMS M6 с интегрированным атомно-силовым микроскопом.
Единственная система подобного рода. Одновременное получение химических и физических (морфология, твердость, проводимость, магнитные свойства и т.п.) в одном цикле измерений без извлечения образца. Программное обеспечение позволяет накладывать латеральные и объемные химические и физические карты.