TOF.SIMS 5

Производство: ION-TOF

TOF.SIMS 5 предоставляет детальную информацию об элементном и молекулярном составе поверхности и приповерхностных слоях образца.

TOF.SIMS M6

Производство: ION-TOF

Новейший времяпролетный масс-спектрометр вторичных ионов шестого поколения от ION TOF GmbH

TOF.SIMS M6 Plus

Производство: ION-TOF

 

Масс-спектрометр TOF.SIMS M6 с интегрированным атомно-силовым микроскопом.
Единственная система подобного рода. Одновременное получение химических и физических (морфология, твердость, проводимость, магнитные свойства и т.п.) в одном цикле измерений без извлечения образца. Программное обеспечение позволяет накладывать латеральные и объемные химические и физические карты.