Сопутствующее оборудование
Компания ООО «Научные Технологии и сервис» представляет три уникальные разработки. Новые приборы позволят проводить высокоточные измерения и исследования характеристик тонких плёнок, полупроводников и сложных материалов, обеспечивая беспрецедентную точность и надёжность результатов. Изготавливаются в РФ под заказ.
DLTS-спектрометр
Производство: ООО "Научные Технологии и Сервис"
Универсальный DLTS-спектрометр для исследования глубоких центров в полупроводниковых структурах, работающий по методу DLTS. Изготавливаются в РФ под заказ.
Кварцевые весы QCM-Series
Производство: ООО "Научные Технологии и Сервис"
Кварцевые весы QCM-Series. Высокоточный контроль толщины и массы в режиме реального времени. Изготавливаются в РФ под заказ.
Scietex Van der Pauw TFRS
Производство: ООО "Научные Технологии и Сервис"
Новая разработка — установка для измерения удельного сопротивления тонкопленочных материалов методом Ван дер Пау. Изготавливаются в РФ под заказ.
Scietex EBIC System
Производство: ООО "Научные Технологии и Сервис"
Scietex EBIC System — это специализированная измерительная система для регистрации тока, индуцированного сфокусированным электронным пучком (Electron Beam Induced Current, EBIC), и анализа локальных электрофизических свойств полупроводниковых материалов и структур. Система Scietex EBIC System интегрируется непосредственно в электронный микроскоп.