Расходные материалы

Источник галлия предназначен для установки в ионную колонну сканирующего электронно-ионного микроскопа для последующего получения ионов галлия. Затем в ионной колонне формируется пучок ускоренных галлиевых ионов. Микроскоп позволяет сканировать фокусированным ионным пучком поверхность образца. При взаимодействии ионов галлия с поверхностью образца происходит вырывание вещества образца, что применяется для изготовления образцов для просвечивающей электронной микроскопии.