Источник для ионной колонны микроскопа Ga69 LMIS
Источник галлия предназначен для установки в ионную колонну сканирующего электронно-ионного микроскопа для последующего получения ионов галлия. Затем в ионной колонне формируется пучок ускоренных галлиевых ионов. Микроскоп позволяет сканировать фокусированным ионным пучком поверхность образца. При взаимодействии ионов галлия с поверхностью образца происходит вырывание вещества образца, что применяется для изготовления образцов для просвечивающей электронной микроскопии.
Источник галлия предназначен для установки в ионную колонну сканирующего электронно-ионного микроскопа для последующего получения ионов галлия. Затем в ионной колонне формируется пучок ускоренных галлиевых ионов. Микроскоп позволяет сканировать фокусированным ионным пучком поверхность образца. При взаимодействии ионов галлия с поверхностью образца происходит вырывание вещества образца, что применяется для изготовления образцов для просвечивающей электронной микроскопии.
В состав поставки источника галлия входят:
● Источник галлия
i. Вольфрамовая спираль с острием, приваренная к керамическому основанию, как резервуар для галлия
ii. Галлий внутри вольфрамового резервуара
● Защитный контейнер для перевозки источника галлия