Травление вольфрама (W)
Сечение в вольфрамовой пластине, выполненное с помощью сфокусированного ионного пучка. Полушаг 35 нм, глубина 300 нм.
Лаборатория OIPT: Анизотропное реактивное ионное травление W с применением источника индуктивно-связанной плазмы (ICP RIE) при -40°С.
|
Лаборатория OIPT: Реактивное ионное травление W с применением источника индуктивно-связанной плазмы (ICP RIE) при комнатной температуре.
|
| |
Лаборатория OIPT: Реактивное ионное травление W с применением источника индуктивно-связанной плазмы (ICP RIE) при комнатной температуре.
|
Лаборатория OIPT: Анизотропное реактивное ионное травление W с применением источника индуктивно-связанной плазмы (ICP RIE)
|
Технологические особенности:
- Реактивное ионное травление W с применением источника индуктивно-связанной плазмы (ICP RIE);
- Гелиевый поддув под подложку, обеспечивающий тепловой контакт;
- Процесс проходит с фторсодержащей химией без осаждения полимеров на стенки камеры.
Результаты:
- Скорость: 50 (RIE) - 200 нм/мин (ICP - RIE);
- Равномерность: 3%;
- Контролируемый профиль стенки (путем регулировки концентрации кислорода и температуры процесса);
- Селективность к Cr маске > 20:1;
- Селективность к фоторезисту 5:1;
- Селективность к SiO2 маске 10:1.