Атомно-слоевое осаждение оксида алюминия (Al2О3) с применением удаленного источника плазмы

Атомно-слоевое осаждение оксида алюминия (Al2О3) с применением удаленного источника плазмы, описание процесса и оборудование

Толщина Al2O3 80 нм в тренче шириной 2,5 мкм (аспектное соотношение 10:1).

Производитель: Oxford Instruments Plasma Technology


aloaldtc.gif
Линейный самоограничивающийся рост Al2O3 при температурах 25-300°C (измерено на ээлипсометре).

Технологические особенности осаждения:

  • Металлический прекурсорr: TMA (триметил алюминия);
  • TMA.gif
  • Неметаллический прекурсор: радикалы О и О2;
  • Temperature controlled vapour draw;
  • Доза прекурсора контролируется быстродействующей системой подачи газов;
  • Температура осаждения: 25-400°C;
  • Время цикла < 4 c - для 200 мм подложки, для меньших подложек ~3 c;
  • 1.2 A/цикл (при 200°C и дозе насыщения) --> 18 A/мин --> более 100 нм/ч (для 200 мм подложки, быстрее для подложек меньших размеров);
  • Равномерность: < ± 0.5-2% (в зависимости от размеров подложки;)
  • Повторяемость < ± 1%;
  • Содержание примесей: С<2%, Н<2.5% - при 200°C;
  • Коэффициент преломления: ~1.63;
  • Пробивное напряжение > 8 МВ/см;
  • Диэлектрическая проницаемость > 8.5.

tma_%20g_t.gif
Зависимость скорости роста пленок Al2O3 от времени воздействия TMA при 200°C

ox_gr_pt.gif
Зависимость скорости роста пленок Al2O3 от времени воздействия кислородной плазмы.
Снижение скорости роста пленки с уменьшением воздействия плазмы иллюстрирует неполную активацию поверхности (неполное удаление CH3 групп).

Оборудование: FlexAl & OpAl

ald.gif

pal_d_t.gif
​Сравнение зависимостей плотности пленок, полученных плазменным и термо- ALD от температуры осаждения.

alo_afm.jpg
​Оценка поверхности ALD пленок с помощью АСМ:

  • подложка c-Si: 0,0555
  • пленка Al2O3: 0.0589

alo_wvtr.gif
Пленка AL2O3, полученная ALD с удаленной плазмой при 20°C имеет очень низкую скорость парообразования водяного пара.