Сканирующие электронные микроскопы (SEM)

Каталог систем сканирующей электронной микроскопии для исследования строения и состава широкого класса веществ с помощью сфокусированного электронного пучка.

Просвечивающие электронные микроскопы

Каталог систем просвечивающей электронной микроскопии для анализа структуры и состава материала с атомарным разрешением. Заказать просвечивающие электронные микроскопы (TEM) в компании ТехноИнфо.

Двулучевые микроскопы (SEM/FIB)

Каталог двулучевых электронных и ионных микроскопов для проведения исследований с высоким разрешением. Заказать двулучевые системы FIB/SEM в компании ТехноИнфо.

Системы фокусированного ионного пучка (FIB)

Каталог систем фокусированного ионного пучка (FIB). Заказать системы фокусированного ионного пучка (FIB)

Пробоподготовка для оптической и электронной микроскопии

Серия установок Системы напыления для пробоподготовки исследований методами электронной микроскопии.  С помощью подготовки  образцов вы сможете значительно улучшить качества получаемых изображений и защитить образцы, чувствительные к пучку электронов. Напыление производится методами магнетронного распыления и термического резистивного испарения. Напыляемые материалы: металлы и углерод.

Расходные материалы

Расходные материалы для электронной микроскопии

Сервисное обслуживание

Сервисная служба Техноинфо предоставляет надежный и высоквалифицированный сервис для электронной микроскопии

Программное обеспечение (SW)

Автоматизация рутинных и трудоемких аналитических методов электронной микроскопии.

Решения для геологии

Специализированные микроскопы, созданные для решения задач рудной геологии и геологического сопровождения работ по добыче МПИ.