Реактивное ионное травление InP с применением ICP источника

Реактивное ионное травление InP с применением ICP источника описание процесса и оборудование

Лаборатория OIPT: глубина травления InP 10 мкм.



Оборудование: PlasmaPro100

Особенности технологии:

Рабочие газы: CH4/H2/Cl2 или CH4/H2

icp_r_ww.gif

Результаты:

  1. Процессы с применением хлорной химии:
    SEM
    Процесс с рабочими газами CH4/H2/Cl2
    • Скорость травления > 1 мкм/мин;
    • Cелективность к SiO2 маске (10-25):1.
  2. Процессы в безхлорной химии:
    • Cкорость травления ~ 200 нм/мин
    • Cелективность к фоторезисту > 10:1 (селективность InGaAs или InGaAsP к PR 1:1)

 

SEM SEM SEM SEM
​газы - CH4/H2, маска - PR,
глубина травления - 2 мкм
​маска - SiO2,
глубина травления - 3 мкм
​​маска - Al2O3 (не удалена)
глубина травления - 15 мкм
​​​маска - Al2O3 (не удалена)
глубина травления - 8 мкм