Анализ поверхности

Оборудование предназначено для исследования образцов методом просвечивающей (TEM) или сканирующей (SEM) электронной микроскопии, а также ионной сканирующей микроскопии. Помимо систем электронной микроскопии, мы предлагаем специализированное программное обеспечение для автоматизации анализа наноструктур и визуализации полученных данных.

Каталог оборудования для время-пролетной вторичной ионной масс- спектрометрии.

Каталог оборудования для проведения рентгеновской электронной спектроскопии наноструктур и анализа поверхности образцов. Системы спектроскопии могут использоваться как в научно-исследовательских целях, так и на производстве (например, в составе систем контроля качества выпускаемой продукции).

​Цифровая микроскопия позволяет анализировать получаемые изображения в режиме онлайн на экране монитора, проводить измерения, сохранять изображения на носитель с целью дальнейшего изучения.

Серия установок Системы напыления для пробоподготовки исследований методами электронной микроскопии.  С помощью подготовки  образцов вы сможете значительно улучшить качества получаемых изображений и защитить образцы, чувствительные к пучку электронов. Напыление производится методами магнетронного распыления и термического резистивного испарения. Напыляемые материалы: металлы и углерод.

Анализ методом рассеяния медленных ионов заключается в бомбардировании образца ионами инертных газов с энергией в несколько кэВ. Оборудование позволяет получить детальную информацию о структуре и элементном составе поверхности исследуемых объектов, а также выявить ее дефекты.