10.02.2023
Новый уровень развития масс-спектроскопии вторичных ионов для материаловедения
Российскими учеными произведен детальный анализ перспективных металлических особо твердых покрытий…
07.02.2023
Ремонт монокристальных дифрактометров инженерами компании Техноинфо
На неделе 23-26 января сервисные инженеры компании Техноинфо, сертифицированные для…
03.02.2023
Открыта регистрация на вебинар «Прижизненная микроскопия в реальном времени (IVM)» от компании IVIM
16 февраля пройдет вебинар, посвященный принципам и технической реализации метода…
31.01.2023
Разработана новая методика для анализа микро- и наноэлектронных компонент с использованием масс-спектрометрии
Компания ION TOF GmbH (Германия) совместно с компанией MCA (Бельгия)…
27.01.2023
Изучение влияния рН и концентрации белка на процесс самовзаимодействия системы BSA в растворе с помощью метода малоуглового рентгеновского рассеяния
Компания Xenocs опубликовала новую статью, посвященную применению метода малоуглового рентгеновского…
24.01.2023
Новый блог компании NanoEntek
Компания NanoEntek запустила блог, в котором рассказывает о возможностях применения…
20.01.2023
Применение метода мало- и широкоуглового рентгеновского рассеяния для изучения батарей на основе ионов натрия
Компания Xenocs опубликовала новую статью, посвященную применению метода мало- и…
12.01.2023
Развитие электронного дифрактометра XtaLAB Synergy-ED и последние научные результаты, полученные с его помощью
Прошло уже более полутора лет с тех пор, как был…
09.01.2023
Изучение влияния влажности на наноструктуру древесины
Компания Xenocs опубликовала новую статью, посвященную применению метода мало- и…