Фотоэлектронный спектрометр Kratos Analytical Axis Nova
AXIS Nova — высокоавтоматизированный рентгеновский фотоэлектронный спектрометр.
Фотоэлектронный спектрометр AXIS Nova основан на давно зарекомендовавшей себя технологии AXIS, включающей в себя соосный компенсатор заряда, магнитные иммерсионные линзы и детектор на линии задержки.
Ключевые особенности:
- Превосходное разрешение;
- Высокая чувствительность;
- Большой держатель для образца диаметром 11 см,
- Компактные размеры спектрометра;
- Возможностью оснащения дополнительными техниками анализа.
- РФЭС с угловым разрешением
Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия с угловым разрешением (ARXPS) является важным инструментом для проведения анализа очень тонких слоев и областей над поверхностью образца без его повреждения. Спектрометр AXIS Nova обеспечивает максимальное разрешение по энергии при любом угле отражения электронов, а также позволяет выявлять очень низкие концентрации приповерхностных соединений.
Автоматизированное эуцентрическое расположение образца гарантирует неизменность позиции для исследования при изменении наклона образца. Автоматическая компенсация заряда позволяет производить автоматический анализ образцов при помощи ARXPS спектроскопии.
- Эффективная компенсация заряда
Запатентованная система нейтрализации заряда AXIS обеспечивает полную компенсацию заряда на всех типах изоляционных материалов, что особенно важно при использовании монохроматического рентгеновского источника, в спектре которого отсутствуют низкие энергии.
Нейтрализация заряда достигается за счет низкоэнергетических электронов, движущихся по спиральным траекториям, которые не вызывают повреждение поверхности образца. Работа с нейтрализатором достаточно простая, так как не требует оптимизации рабочих параметров нейтрализатора при замене образца, поэтому исследование изоляторов может быть автоматизировано.