Skip

Axis Nova



Высокоавтоматизированный рентгеновский фотоэлектронный спектрометр AXIS Nova позволяет проводить исследования образцов диаметром до 11 см с превосходным разрешением и отличной чувствительностью.

запросить коммерческое предложение...запросить сервисную поддержку...

AXIS Nova основан на давно зарекомендовавшей себя технологии AXIS, включающей в себя соосный компенсатор заряда, магнитные иммерсионные линзы и детектор на линии задержки. Превосходное разрешение и высокая чувствительность совместно с большим держателем для образца диаметром 11 см, компактными размерами самого спектрометра, а также с возможностью оснащения дополнительными техниками анализа, делает AXIS Nova необходимым прибором для решения целого ряда научно-технических задач.


РФЭС с угловым разрешением

Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия с угловым разрешением (ARXPS) является важным инструментом для проведения анализа очень тонких слоев и областей над поверхностью образца без его повреждения. Спектрометр AXIS Nova обеспечивает максимальное разрешение по энергии при любом угле отражения электронов, а также позволяет выявлять очень низкие концентрации приповерхностных соединений. Автоматизированное эуцентрическое расположение образца гарантирует неизменность позиции для исследования при изменении наклона образца. Автоматическая компенсация заряда позволяет производить автоматический анализ образцов при помощи ARXPS спектроскопии. Спектры Si 2p отображают анализ тонкого слоя диоксида кремния SiO2 в основной части и на областях около поверхности. Превосходное разрешение по энергии достигается в обоих случаях, о чем свидетельствует расщепление ядерных уровней элементных пиков кремния Si 2p.

Эффективная компенсация заряда

Запатентованная система нейтрализации заряда AXIS обеспечивает полную компенсацию заряда на всех типах изоляционных материалов, что особенно важно при использовании монохроматического рентгеновского источника, в спектре которого отсутствуют низкие энергии. Нейтрализация заряда достигается за счет низкоэнергетических электронов, движущихся по спиральным траекториям, которые не вызывают повреждение поверхности образца. Работа с нейтрализатором достаточно простая, так как не требует оптимизации рабочих параметров нейтрализатора при замене образца, поэтому исследование изоляторов может быть автоматизировано. В примере слева показано оптическое изображение волокон целлюлозы в положении анализа AXIS Nova вместе со спектром высокого разрешения региона C 1s. Отличная нейтрализация заряда образца со сложной топографической структурой дает прекрасное разрешение, доказываемое значениями FWHM для различных компонент региона C1s, указанных на спектре.