Skip

Quattro™



Универсальный высокоразрешающий СЭМ с уникальным режимом естественной среды

запросить коммерческое предложение...

Thermo Scientific™ Quattro СЭМ сочетает в себе отличную производительность как для визуализации, так и для аналитических исследований в сочетании с уникальным режимом естественной среды (ESEM). Это отличное решение для изучения образцов в их естественном состоянии и среде.

SEM Quattro является отличным решением для тех, кто исследует в работе образцы различной природы и происхождения и хочет свести к минимуму время на их подготовку. Quattro отличается универсальностью и дает возможность быстро получать изображения и анализировать даже непроводящие и/или гидратированные образцы.

Нанохарактеризация образцов:

  • Металлы и сплавы, трещины, сварные швы, полированные профили, магнитные и сверхпроводящие материалы
  • Керамика, композиты, пластмассы
  • Пленочное покрытие
  • Геологические срезы, минералы
  • Мягкие материалы: полимеры, фармацевтические препараты, фильтры, гели, ткани, материалы растительного происхождения
  • Частицы, пористые материалы, волокна

Характеризация in situ:

  • Кристаллизация / фазовое преобразование
  • Окисление, катализ
  • Выращивание материалов
  • Гидратация/дегидратация/смачивание/угол соприкосновения анализа
  • Растяжение/сжатие (при нагреве и охлаждении)



В базовую комплектацию Quattro входит:

  • Высокопроизводительный SEM с FEG колонной
  • Компьютер с 24’ LCD монитором (Windows 7)
  • CCD камера
  • Мультифункциональный держатель на 18 ( ⌀12) слотов
  • Предметный столик 110 × 110 мм, моторизированный по 5 осям
  • режим ESEM с вспомогательной газовой системой

Детекторы

  • Детектор вторичных электронов Эверхарта-Торнли (SED) для топографического контраста материалов в режиме высокого вакуума
  • Large Field GSED (газовый детектор вторичных электронов для топографического контраста в режиме низкого вакуума
  • LVD детектор вторичных электронов для работы в режиме низкого вакуума

Вакуумная система

  • Турбомолекулярный насос: 1 × 250 лит./с
  • Форвакуумный насос: 1 шт
  • Ионно-геттерный насос: 2 шт
Программное обеспечение
  • xT SEM – простой и удобный пользовательский интерфейс
  • Smart ScanTM – функция интеллектуального сканирования
  • DCFI – интегрированная система компенсации дрейфа
  • Отображение результатов на экране монитора сразу с 4 детекторов (Single-frame or 4-view image display)








В зависимости от предполагаемой области применения, микроскоп может быть дополнительно оснащен:

  • оптической камерой Nav-Cam для удобной навигации по образцу
  • уникальным выдвижным многосегментным детектором обратно-рассеянных электронов DBS
  • устанавливаемым на линзу газовым аналитическим детектором обратнорассеянных электронов DBS-GAD для режимов низкого вакуума и ESEM
  • уникальным выдвижным многосегментным детектором прошедших электронов STEM3+
  • Пельтье столиком WetSTEM™ интегрированным с STEM для изучения тонких и влажных образцов
  • детектором катодолюминесценции RGB-CLD
  • внутриколонным ICD детектором для использования режима замедления пучка
  • специальными держателями образцов (возможен заказ держателей под нужды пользователя)
  • системой подачи газа для нанесения пленок/сварки GIS (углерод, платина, вольфрам)
  • наноманипуляторами и зондами
  • криостоликом Пельтье от -20° C до +60° C
  • функцией замедления пучка Beam deceleration в диапазоне от -4000 В до +50 В
  • плазменной очисткой образца/камеры Plasma Cleaner
  • модулем криоочистки образца CryoCleaner
  • системой для быстрой загрузки Quick Loader
  • различными анализаторами: EDS, EBSD, CL, WDS, Raman
  • системой рисования электронным лучом Patterning
  • амперметром для измерения тока на образце
  • акустическим кожухом для вакуумной системы
  • полностью безмасляного форвакуумного насоса
  • дополнительным компьютером/монитором
  • джойстиком
  • ручной консолью управления
  • системой навигации и ПО Correlative NavigationMAPS Tilting and Stitching
  • ПО MAPS для автоматического получения массивных изображений и их обработки
  • ПО AutoScript4 для написания скриптов и автоматизации работы
  • TopoMaps для характеризации изображений и 3D реконструкции поверхности
  • ПО дополнительного анализа изображений и 3D реконструкций Avizo/Amira/PerGeos
  • ПО для удаленного доступа и диагностики системы 
  • ПО для in situ экспериментов и контроля температурных столиков 1000° C - 1400° C,
    Пельтье столика -20° C  - +60° C

Камера для образцов
  • Размер камеры: 340 мм
  • Перемещение столика: 110*110 (x,y)
  • Вращение: n*360°
  • Наклон: -15°/+90°
  • Максимальный размер образца: 122 мм ⌀
  • Порты: 12
Рабочее ускоряющее напряжение 200В - 30кВ

Разрешение
  • 0,8 нм на 30 кВ (STEM) - HiVac
  • 1 нм на 30 кВ (SE) - HiVac
  • 2,5 нм на 3 кВ (BSE) - HiVac
  • 3 нм на 1 кВ (SE) - HiVac
  • 1,3 нм на 30 кВ (SE) -LoVac
  • 2,5 нм на 30 кВ (BSE) - LoVac
  • 3 нм на 3 кВ (SE) - LoVac
  • 1,3 нм на 30 кВ (SE) - ESEM
Уровень вакуума в камере
  • (высокий вакуум) < 6 × 10-4 Па
  • (низкий вакуум) 10 - 200 Па
  • (ESEM) < 10 - 4000 Па