[:ru]Сканирующие электронные микроскопы ThermoFisher Verios™[:en]Verios™ XHR Scanning Electron Microscope[:]
[:ru]
Сверхвысокое разрешение во всём диапазоне ускоряющих напряжений.
[:en]Сверхвысокое разрешение во всём диапазоне ускоряющих напряжений.[:]
[:ru]
[:en][:]
Превосходная производительность VeriosТМ объясняется уникальным дизайном электронной колонны «Elstar FESEM». Монохроматор и модуль замедления пучка электронов позволяют показывать невероятные результаты на низких ускоряющих напряжениях, а новая технология «Constant Power Lens», делает колонну микроскопа еще более стабильной. К уже ставшему традиционным для FEI кольцевому детектору вторичных и обратно рассеянных электронов (DBS) на линзе добавлены два новых детектора внутри колонны, позволяющие получать превосходные разрешение и контраст. Более того, улучшенный детектор STEM показывает невероятную производительность при исследовании ламелей методом просвечивающей микроскопии.
Преимущества Verios G4 XHR SEM
- Новые высококонтрастные многосегментные твердотельные детекторы для BSE и STEM
- Режим замедления электронного пучка для работы с деликатными биологическими образцами
- Суб-нанометровое разрешение при низких ускоряющих напряжениях вплоть до 1 кВ
- Встроенный быстрый электростатический бланкер: для нужд электронной литографии высокого разрешения и для обеспечения минимального повреждения чувствительных биологических образцов
- Электростатическая система сканирования обеспечивает минимальные искажения и высокую скорость развертки пучка
Превосходная производительность VeriosТМ объясняется уникальным дизайном электронной колонны «Elstar FESEM». Монохроматор и модуль замедления пучка электронов позволяют показывать невероятные результаты на низких ускоряющих напряжениях, а новая технология «Constant Power Lens», делает колонну микроскопа еще более стабильной. К уже ставшему традиционным для FEI кольцевому детектору вторичных и обратно рассеянных электронов (DBS) на линзе добавлены два новых детектора внутри колонны, позволяющие получать превосходные разрешение и контраст. Более того, улучшенный детектор STEM показывает невероятную производительность при исследовании ламелей методом просвечивающей микроскопии.
Преимущества Verios G4 XHR SEM
- Новые высококонтрастные многосегментные твердотельные детекторы для BSE и STEM
- Режим замедления электронного пучка для работы с деликатными биологическими образцами
- Суб-нанометровое разрешение при низких ускоряющих напряжениях вплоть до 1 кВ
- Встроенный быстрый электростатический бланкер: для нужд электронной литографии высокого разрешения и для обеспечения минимального повреждения чувствительных биологических образцов
- Электростатическая система сканирования обеспечивает минимальные искажения и высокую скорость развертки пучка
[:en]
[:]