Skip

MAPS



Навигация, монтаж, корреляционная микроскопия с поддержкой импорта изображений, полученных на оптическом микроскопе вне зависимости от производителя. Все это MAPS.

запросить коммерческое предложение...запросить сервисную поддержку...

MAPS совместим с любой системой SEM или DualBeam от FEI, а также с микроскопами FEI CorrSight.

Картирование с высоким разрешением

MAPS автоматически выполнит картирование выбранной большой площади образца с требуемым разрешением. Вам нужно будет только выбрать размеры интересующей области и нажать Старт. MAPS выполнит разбиение откалибрует необходимые области наложения соседних полей, самостоятельно произведет сшивку полученной карты.

Корреляционная микроскопия

С помощью MAPS Вы сможете совмещать изображения, полученные с помощью сканирующего электронного микроскопа или двулучевого электронно-ионного микроскопа с данными оптической, флуоресцентной или лазерной конфокальной микроскопии легко и быстро. Не зависимо от производителя оптического микроскопа, MAPS импортирует снимки, калибрует их и производит точное наложение данных. Кроме световой микроскопии MAPS может импортировать данные атомно-силовой и зондовой микроскопии, карты измерения микротвердости. Корреляционная микроскопия - современный и эффективный метод анализа данных, полученных разными методами.

Навигация

Используя функцию быстрого картирования MAPS подготовит для Вас навигационное изображение образца, которое можно использовать для навигации в сканирующем электронном микроскопе и двулучевом электронно-ионном микроскопе. Нужно просто нажать на нужную точку на карте образца и столик микроскопа автоматически переместится в нужное место.