Времяпролетные масс-спектрометры вторичных ионов (TOF-SIMS) и высокочувствительные спектрометры рассеяния ионов с малой энергией (LEIS).
Компания ION-TOF является европейским лидером по производству систем анализа поверхности. Среди выпускаемой продукции присутствует ряд времяпролетных масс-спектрометров вторичных ионов (TOF-SIMS, time-of-flight secondary ion mass spectrometer) и высокочувствительный спектрометр рассеяния ионов с малой энергией (LEIS, low-energy ion scattering).
Продукция компании ION-TOF имеет применение в широкой области исследований различных типов образцов, начиная от металлов и микроэлектроники и заканчивая молекулярной и клеточной биологиях.
С увеличением числа систем TOF-SIMS, установленных в лабораториях по всему миру, их применение становится стандартом при поверхностных исследованиях. В настоящее время по всему миру установлено и успешно используется более 140 систем TOF-SIMS в промышленных и академических лабораториях. Компания достигла успеха благодаря уникальным техническим характеристикам приборов, производительности, превосходной технической поддержке и глубокому пониманию особенностей применения и нужд потребителей.
В 2007 году ряд продукции ION-TOF был дополнен высокочувствительным спектрометром дифракции медленных ионов (LEIS). Продукция компании ION-TOF находит широкое применение, начиная от исследований твердотельных образцов и микроэлектроники до молекулярной и клеточной биологии.