Техноинфо на Аналитике 2026

Выставка «Аналитика Экспо-2026» стала для нашей компании значимым мероприятием, на котором мы смогли представить наши последние разработки в области аналитического оборудования.

Так же вы можете посмотреть наш видеоотчет на вкладке Видео.



В этом году два наших отдела - отдел геологии и дифрактометрии, а также отдел электронной микроскопии - продемонстрировали уникальные решения, которые разработали сами. Для тех, кто не смог посетить наш стенд на выставке, расскажем подробнее.

Отдел геологии и дифрактометрии: уникальный сканер керна

Отдел геологии и дифрактометрии «Техноинфо» с 2011 года занимается поставками и внедрением оборудования для полнопрофильного анализа керна. После 2022 года, столкнувшись с полным отсутствием аналогов на отечественном рынке, специалисты отдела геологии начали разработку собственного анализатора керна. В этом году на Аналитике 2026 мы с гордостью представили наш уникальный сканер для полноразмерного керна  Unicore.

Полнопрофильное сканирование керна, сочетающее химический анализ, фотодокументацию и определение геофизических характеристик. Мы в полной мере постарались реализовать все необходимые методы анализа, необходимые для полного комплекса исследований в одном сканере. Для этого мы создали модульную и универсальную платформу, адаптируемую под требования клиентов и оснащённую разнообразными датчиками. Все комплектующие исключительно отечественного производства, поэтому мы смело можем сказать, что наш сканер полностью российского производства.

Возможность соединения больших образцов с миниатюрными, качество и полнота исследования, ранее доступные только при использовании зарубежного оборудования, теперь возможны и на отечественной базе с помощью анализатора Unicore.

На выставке мы продемонстрировали первый образец сканера керна. Гости стенда вживую смогли познакомиться с методикой линейного сканирования и всеми возможностями одновременного анализа. Специалисты отдела геологии с удовольствием рассказывали про принципы работы сканера и демонстрировали его в действии. Сканер керна открывает большие перспективы в различных областях научных исследований, таких как геология, палеоклимат, изучение озёр и многих других.

Подробнее о сканере вы можете почитать на страничке прибора. По всем вопросам поставки и комплектации пишите на почту geo@technoinfo.ru.

Отдел электронной микроскопии: новые решения для электронной микроскопии

На выставку Отдел электронной микроскопии привез свои последние разработки: дополнительное оборудования для электронных микроскопов. Новые приборы позволяют проводить высокоточные измерения и исследования характеристик тонких плёнок, полупроводников и сложных материалов, обеспечивая беспрецедентную точность и надёжность результатов. Наши инженеры-разработчики и специалисты по оборудованию активно общались с посетителями выставки, рассказывая про все достоинства  и возможности.

Первым в списке мы представили универсальный DLTS-спектрометр для исследования глубоких центров в полупроводниковых структурах, работающий по методу  DLTS, который до сих пор остается основным методом исследования центров захвата электронов и дырок в полупроводниках. Предлагаемый новый вариант спектрометра основывается на многолетнем использовании авторами метода DLTS для исследований полупроводниковых структур и сохраняет его основные особенности. Мы дополнили его расширенными функциональными возможностями, а изменения измерительной схемы позволили преодолеть ограничения, существующих при традиционном построении спектрометра. 

Так же популярностью пользовались кварцевые весы QCM-Series для электронной микроскопии. Кварцевые весы QCM-Series — это идеальное решение для тех, кто ценит точность, надежность и готовность продукта к работе в самых требовательных промышленных условиях. Этот инновационный продукт предназначен для прецизионного измерения частоты, контроля толщины пленок и мониторинга массы в режиме реального времени, устанавливая новый стандарт точности и простоты интеграции в исследовательские и промышленные технологические процессы.

Третья разработка наших инженеров - установка для измерения удельного сопротивления тонкопленочных материалов методом Ван дер Пау Scietex Van der Pauw TFRS . Разработанная установка сочетает высокую точность, универсальность применения и современный интерфейс, что делает её эффективным инструментом для исследователей и инженеров, работающих с тонкопленочными и наноструктурированными материалами.

Все три разработки изготавливаются в РФ и производятся под заказ. Свои заявки отправляйте на почту em.sales@technoinfo.ru. 

Кроме новинок посетители стенда имели возможность ознакомиться с работой систем напыления, разработанных и произведённых ООО «Научные технологии и сервис». Наши системы для пробоподготовки успешно представлены на рынке уже несколько лет и получили высокие оценки от пользователей. В 2025 году инженеры-разработчики в представили новую комбинированную версию системы напыления C156RES, способную наносить пленку и металлами и углеродом. Это идеальное решение для лабораторий, работающих с разными образцами.

Кроме представленных на стенде разработок мы по-прежнему поставляем инновационную линейку электронных микроскопов Scietex, которые включают в себя как сканирующие, так и просвечивающие микроскопы, комплектующие и расходные материалы. 

По всем вопросам пишите нашим специалистам на почту em.sales@technoinfo.ru или звоните по номеру +7 499 911 90 01.

Все разработки и представленное оборудование позволяют нашим клиентам заниматься научными исследованиями без лишних затрат и с полной технической поддержкой, напрямую от производителя и эксклюзивного поставщика  - ООО «Техноинфо».

Мы не останавливаемся в развитии и доработке наших приборов для  расширения функциональных возможностей и внедрению новых технологий, чтобы обеспечить наших заказчиков самыми современными решениями.