Сканирующий электронный микроскоп Prisma E

Сканирующий электронный микроскоп с энергодисперсионным анализатором в комплекте. Гибкое решение для широкого спектра исследовательских задач по доступной цене.

Производитель: Thermo Fisher Scientific

Запросить коммерческое предложение Запросить сервисную поддержку

Удобное изучение любых образцов в высоком вакууме, низком вакууме и режиме естественной среды.

Prisma E - это современное, гибкое решение для текущих и будущих исследовательских задач. Обладая тремя режимами визуализации - высоким вакуумом, низким вакуумом и режимом естественной среды ESEM™, он поддерживает широкий диапазон любых образцов для SEM системы. Характеризация образца завершается быстрым и точным элементным анализом с помощью детектора UltraDry EDS и программной платформы Pathfinder.

SEM Prisma E имеет простой в использовании и удобный пользовательский интерфейс с функциями, обеспечивающими максимальную производительность и позволяющими собирать все данные. Навигационные функции включают в себя автоматическую навигацию, drag-to-zoom и другие, включенные в стандартную комплектацию. Технология SmartSCAN ™ - это функция интеллектуального сканирования для снижения шума и повышения качественных данных.

Аналитический SEM Thermo Scientific Prisma E производит высококачественные изображения и анализ, от традиционных образцов, таких как металлы, трещины и полированные участки, до непроводящих мягких материалов. Режим естественной среды ESEM позволяет анализировать в парах воды гидратированные биологические образцы в нативном состоянии, минимизируя процесс пробоподготовки.

В базовую комплектацию Prisma E входит:

Высокопроизводительный SEM с термоэлектронной эмиссионной (W) колонной;
Компьютер с 24’ LCD монитором (Windows 7);
Рабочий стол;
CCD камера;
Мультифункциональный держатель на 7 слотов.

Детекторы:

Детектор вторичных электронов Эверхарта-Торнли (SED) для топографического контраста материалов в режиме высокого вакуума;
Large Field GSED (газовый детектор вторичных электронов для топографического контраста в режиме низкого вакуума;
ESEM GSED со встроенным ограничением давления диафрагмы;
2-канальный (DBS) детектор обратно-рассеянных электронов для топографического и z-контраста материалов.

Вакуумная система:

Турбомолекулярный насос: 1×250 имп/с;
Форвакуумный насос: 1 шт.

Программное обеспечение:

xT SEM – простой и удобный пользовательский интерфейс;
Smart Scan^TM – функция интеллектуального сканирования;
DCFI – интегрированная система компенсации дрейфа;
Pathfinder^TM EDS ПО для аналитики с ZAF, Proza и Cliff Lorimer коррекциями и множеством функций набора спектра, режим поэлементного картирования и др.

В зависимости от предполагаемой области применения, микроскоп может быть дополнительно оснащен:

Оптической камерой Nav-Cam для удобной навигации по образцу;
Уникальным выдвижным многосегментным детектором обратно-рассеянных электронов DBS;
Устанавливаемым на линзу газовым аналитическим детектором обратнорассеянных электронов DBS-GAD для режимов низкого вакуума и ESEM;
Уникальным выдвижным многосегментным детектором прошедших электронов STEM3+;
Пельтье столиком WetSTEM™ интегрированным с STEM для изучения тонких и влажных образцов;
Детектором катодолюминесценции RGB-CLD;
Внутриколонным ICD детектором для использования режима замедления пучка;
Специальными держателями образцов (возможен заказ держателей под нужды пользователя);
Наноманипуляторами и зондами;
Криостоликом Пельтье от -20°C до +60°C;
Функцией замедления пучка Beam deceleration в диапазоне от -4000В до +50В;
Плазменной очисткой образца/камеры Plasma Cleaner;
Модулем криоочистки образца CryoCleaner;
Системой для быстрой загрузки Quick Loader;
Различными анализаторами: EDS, EBSD, CL, WDS, Raman;
Системой рисования электронным лучом Patterning;
Амперметром для измерения тока на образце;
Акустическим кожухом для вакуумной системы;
Полностью безмасляного форвакуумного насоса;
Дополнительным компьютером/монитором;
Джойстиком;
Ручной консолью управления;
Системой навигации и ПО Correlative Navigation, MAPS Tilting and Stitching;
ПО MAPS для автоматического получения массивных изображений и их обработки;
ПО AutoScript4 для написания скриптов и автоматизации работы;
TopoMaps для характеризации изображений и 3D реконструкции поверхности;
ПО дополнительного анализа изображений и 3D реконструкций Avizo/Amira/PerGeos;
ПО для удаленного доступа и диагностики системы;
ПО для in situ экспериментов и контроля температурных столиков 1000°C — 1400°C, Пельтье столика -20°C — +60°C.

Камера для образцов:

Размер камеры: 340 мм;
Перемещение столика: 110*110 (x,y);
Вращение: n*360°;
Наклон: -15°/+90°;
Максимальный размер образца: 122 мм ⌀ (2 кг).

Рабочее ускоряющее напряжение: 200В — 30кВ.

Разрешение:

3 нм на 30 кВ (SE) — HiVac;
4 нм на 30 кВ (BSE) — HiVac;
8 нм на 3 кВ (SE) — HiVac;
3 нм на 30 кВ (SE) — ESEM.

Уровень вакуума в камере:

(высокий вакуум) < 6 × 10-4 Па;
(низкий вакуум) до 200 Па;
(ESEM) до 4000 Па.