Сканирующий электронный микроскоп SEM Scietex F12
Сканирующий электронный микроскоп с автоэмиссионным катодом SEM Scietex F12 обладает высокой производительностью за счет инноваций в технологии получения изображений, конструкции столика для образца, схем управления и интеллектуальных алгоритмов, при этом скорость визуализации превышает традиционные электронные микроскопы в десятки раз.
В SEM Scietex F12 применяются детекторы с прямым преобразованием электронов, которые помогают преодолевать ограничения обычных электронных микроскопов по скорости, точности и повреждению образца. Таким образом сканирующий электронный микроскоп превращается из традиционной нано-«фотокамеры» в нано-«видеокамеру». SEM Scitex F12 также прост в эксплуатации, обладая полностью автоматизированным переключением между образцами одним щелчком и способностью к круглосуточной автономной работе, что значительно повышает эффективность исследований.
SEM Scietex F12 может быть особенно полезен в таких областях, как науки о жизни, исследование материалов, полупроводниковая промышленность и геологические ресурсы. Он имеет значительные преимущества в 3D-реконструкции в нейробиологии, характеристике и анализе материалов большой площади, реверс-инжиниринге полупроводников и анализе нанотехнологий.
Особенности SEM Scitex F12:
- Быстрая визуализация.
- Высокое качество изображения
- Кросс-масштабная визуализация образцов с большой площадью поверхности
- Интеллектуальный анализ
- Простота в эксплуатации
- Катод: Высокостабильный катод с полевой эмиссией типа Шоттки
- Разрешение: 1.5 нм при 1 кВ, 1.3 нм при 3 кВ
- Ускоряющее напряжение: 0.1–12 кВ
- Ток пучка: 50 пА – 30 нА
- Объективная линза: Электромагнитная линза с функцией замедления пучка (ВD mode)
- Увеличение: 500X~600,000X (изображение SEM)
- Рабочее расстояние: 1,5 мм
- Максимальное поле зрения: 100 мкм — 1 мм
- Столик: X=150 мм, Y=150 мм, Z=20 мм (5 кг)
- Детекторы: In-column SE; In-lens BSE
- Скорость съемки SE и BSE — 100Mп/с
Листовка SEM Scietex F12