Просвечивающий электронный микроскоп Talos F200X/S™
Сверхъяркий источник типа Шоттки и четыре детектора Super-X EDS для самого быстрого элементного картирования даже в 3D.
Высокое разрешение, высокая производительность, высокая чувствительность
FEI Talos F200X сочетает в себе достоинства просвечивающего электронного микроскопа высокого разрешения с режимами STEM и TEM и уникального на сегодня по своим характеристикам энергодисперсионного спектрометра характеристического рентгеновского излучения (EDS) FEI SuperX. Микроскоп позволяет проводить трехмерную характеризацию образца, включая определение элементного состава и картирование распределения элементов. Управляющее программное обеспечение FEI Velox значительно повышает качество изображений при работе в STEM режиме за счет функции Smart Scanning, включающей в себя автоматическую компенсацию дрейфа и параллельный многоканальный сбор сигналов от разных детекторов и от разных сегментов одного детектора. Аналитический режим дифференциального фазового контраста (Differential Phase Contrast, DPC) для темнопольного детектора STEM позволяет визуализировать магнитные структуры.
FEI X-FEG - полевой катод высокой яркости
В Talos F200X применен источник электронов с катодом термополевой эмиссии повышенной яркости FEI X-FEG. Параметры этого катода оптимизированы таким образом, что он дает ток пучка в пять раз выше чем у стандартного катода типа Шоттки Schottky. При этом стабильность пучка, апертура, срок службы у X-FEG такие же как и у стандартного катода Шоттки. Вы получаете заметное улучшение соотношения сигнал-шум и улучшенную производительность для STEM, TEM и EDS.
FEI SuperX - EDS спектрометр нового поколения
Полностью разработанный FEI спектрометр SuperX создан, чтобы дополнять просвечивающие электронные микроскопы FEI и максимально оптимизирован под особенности конструкции объективных линз и держателей. В детекторе SuperX применена инновационная технология безоконного кремниевого дрейфового детектора, позволяющая значительно повысить чувствительность к легким элементам. Для защиты от обледенения и от загрязнений детектор оснащен защитной шторкой и крик-ловушкой. Для обеспечения максимального телесного угла сбора спектрометр SuperX включает сразу 4 таких детектора, расположенных с четырех сторон относительно образца. Вам больше не нужно наклонять образец в сторону детектора, чтобы получить оптимальную чувствительность. Кроме того, SuperX позволяет проводить 3D анализ элементарного состава, используется при томографии.
Talos F200X обладает рядом преимуществ за счет использования новейших технологий FEI в области просвечивающей электронной микроскопии:
- Аналитическая объективная линза A-TWIN постоянной мощности для высочайшей стабильности;
- Поддержка многопользовательской работы с сохранением и быстрым восстановлением независимых для каждого пользователя настроек работы микроскопа;
- Полностью удаленная работа за счет использования камеры с большим динамическим диапазоном Ceta. Фокусировка, юстировка оптики, работа с дифракцией — Все выполняется без использования традиционного фосфорного экрана в условиях нормальной освещенности в помещении;
- Уникальная безоконная конструкция кремниевых дрейфовых детекторов рентгеновского излучения обеспечивает высокую скорость анализа и чувствительность при анализе легких элементов;
- EDS спектрометр FEI SuperX: четыре детектора для максимальной чувствительности под любым углом. 3D томография с восстановлением элементного состава;
- Сверхъяркий катод FEI X-FEG: ток пучка в пять раз выше стандартного катода Шоттки.
A-TWIN:
- Разрешение в режиме STEM, детектор HAADF: 0,16 нм;
- Информационный предел TEM: 0,12 нм;
- Диапазон увеличений: STEM: 150x — 230Mx, TEM: 25x — 1,5Mx (опция);
- Диапазон длин камеры: 12 — 5700 мм;
- Максимальный угол дифракции: 24°;
- Максимальный угол наклона при использовании двухнаклонного держателя: ± 30°;
- Максимальный угол наклона гониометра: ± 90°;
- Энергодисперсионный спектрометр (EDS): с четырьмя кремниевыми дрейфовыми детекторам безоконного типа;
- Телесный угол EDS: 0,9 стерадиан.