Aquilos™ Cryo-FIB

Электронный двулучевой микроскоп для изготовления ламелей для крио-томографии и прочих крио-приложений

Запросить коммерческое предложение Запросить сервисную поддержку

Aquilos — это первый двулучевой микроскоп, специально разработанный для изготовления ламелей для криотомографии in-situ. Прибор совмещает инновационную электронную и ионную оптику с продвинутым программным обеспечением. Технологии, получившие признание на платформе Scios, в этом приборе совмещены со специально разработанным криостоликом, станцией подготовки образца, устройством переноса и программным обеспечением. Таким образом, система позволяет создавать ламели высочайшего качества по заданным параметрам и с высокой воспроизводимостью.

Изготовление ламелей для криотомографии с использованием автозагрузчика TEM

Комплекс аппаратных решений внутри камеры микроскопа обеспечивает оптимальные условия для пробоподготовки при низких температурах. Образцы помещаются на специальные сеточки (AutoGrids), которые можно загрузить в автозагрузчик TEM.

Изготовление тонких ламелей без артефактов

Травление ионным пучком исключает механическое повреждение образца, которое может иметь место при использовании крио-ультрамикротома.

Высокая точность

Программное обеспечение с простым и понятным пользовательским интерфейсом в сочетании с корреляционным ПО MAPS делает Aquilos простым в использовании даже для неподготовленных пользователей.

Электронная оптика

Высокостабильный катод Шоттки
Максимальный срок службы катода: 12 месяцев
Простая установка и обслуживание электронной пушки: автоматический отжиг, автостарт и никакой механической настройки
Постоянный контроль тока пучка и оптимизированный угол диафрагм
Двойное отклонение столика при сканировании
Двойная объективная линза, сочетающая электромагнитную и электростатическую линзы • Программная помощь в настройке и возможность сохранения пресетов
Ток пучка: 1.5 пА — 400 нА
Диапазон ускоряющих напряжений: 200 В — 30 кВ
Разрешение на эуцентрическом рабочем расстоянии: 6 нм на 2 кВ

Ионная оптика

Срок службы источника: 1300 часов
Напряжение: 500 В — 30 кВ
Ток пучка: 1.5 пА — 65 нА (15 шагов)
Режим подавления дрейфа по умолчанию для непроводящих образцов
Разрешение: 7.0 нм на 30 кВ

Вакуумная система

Полностью безмасляная вакуумная система в микроскопе
1× турбомолекулярный насос с турборегулятором, 240 л/с
1× спиральный насос
3× геттеро-ионный насос, 25 л/с
Дополнительный роторный насос для теплообменника
Сухой мембранный насос для станции подготовки
Вакуум в камере с образцом при комнатной температуре: <4e-4 Па
Вакуум в камере в криоусловиях: <6e-5 Па

Крио-столик

Фиксированный вращающийся криостолик
Вращение: 360° (бесконечно)
Компуцентрическое вращение и наклон
Время, необходимое для полного охлаждения: <30 минут
Диапазон перемещения по осям XY: 110 мм
Диапазон перемещения по оси Z: 65 мм
Диапазон наклона в крио-режиме (эуцентрическое рабочее расстояние): от -15° до +55°

Особенности процесса получения изображений

Диапазон выдержки от 25 нс до 25 мс/пиксел
Разрешение до 6144 × 4096 пикселов (до 64k с использованием ПО MAPS)
Тип файлов: TIFF (8, 16, 24-бит), BMP или JPEG
Вращение при электронном сканировании: 360° градусов
Система Thermo Scientic SmartSCANTM (усреднение или интегрирование по 256 кадрам)
Система компенсации дрейфа DCFI (Drift Compensated Frame Integration)

Система

64-бит Windows 7, клавиатура, мышь
До четырех изображений разных пучков или сигналов в реальном времени
3 × 24-дюймовых широкоэкранных монитора с разрешением 1920×1200 пикселов
Мультифункциональная контрольная панель

Программное обеспечение

Концепция графического интерфейса “Beam per view”, суть которой заключается в наличии четырех активных квадрантов с разными данными одновременно
ПО Thermo Scientic SPI^TM (одновременное травление ионным пучком с контролем изображения в СЭМ)
ПО Thermo Scienti c iSPI^TM (последовательная съемка в СЭМ и травление ионным пучком)
ПО Thermo Scienti c iRTM^TM software (Интегрированный мониторинг в реальном времени) и несколько режимов иммерсии ионного пучка для продвинутой работы СЭМ и электронной пучка
Поддерживаемые паттерны: прямоугольник, линия, круг, очистка, кросс-секционирование, регулярное кросс-секционирование, многоугольник, bitmap, stream file, зоны исключения, массивы
Навигация по образцу на оптическом изображении
Функции Undo / Redo