Электронный двулучевой микроскоп Aquilos™ Cryo-FIB
Электронный двулучевой микроскоп для изготовления ламелей для крио-томографии и прочих крио-приложений.
Aquilos™ Cryo-FIB - это первый двулучевой микроскоп, специально разработанный для изготовления ламелей для криотомографии in-situ. Прибор совмещает инновационную электронную и ионную оптику с продвинутым программным обеспечением. Технологии, получившие признание на платформе Scios, в этом приборе совмещены со специально разработанным криостоликом, станцией подготовки образца, устройством переноса и программным обеспечением. Таким образом, система позволяет создавать ламели высочайшего качества по заданным параметрам и с высокой воспроизводимостью.
Изготовление ламелей для криотомографии с использованием автозагрузчика TEM
Комплекс аппаратных решений внутри камеры микроскопа обеспечивает оптимальные условия для пробоподготовки при низких температурах. Образцы помещаются на специальные сеточки (AutoGrids), которые можно загрузить в автозагрузчик TEM.
Изготовление тонких ламелей без артефактов
Травление ионным пучком исключает механическое повреждение образца, которое может иметь место при использовании крио-ультрамикротома.
Высокая точность
Программное обеспечение с простым и понятным пользовательским интерфейсом в сочетании с корреляционным ПО MAPS делает Aquilos™ Cryo-FIB простым в использовании даже для неподготовленных пользователей.
Электронная оптика:
- Высокостабильный катод Шоттки;
- Максимальный срок службы катода: 12 месяцев;
- Простая установка и обслуживание электронной пушки: автоматический отжиг, автостарт и никакой механической настройки;
- Постоянный контроль тока пучка и оптимизированный угол диафрагм;
- Двойное отклонение столика при сканировании;
- Двойная объективная линза, сочетающая электромагнитную и электростатическую линзы • Программная помощь в настройке и возможность сохранения пресетов;
- Ток пучка: 1.5 пА-400 нА;
- Диапазон ускоряющих напряжений: 200 В-30 кВ;
- Разрешение на эуцентрическом рабочем расстоянии: 6 нм на 2 кВ.
Ионная оптика:
- Срок службы источника: 1300 часов;
- Напряжение: 500 В-30 кВ;
- Ток пучка: 1.5 пА-65 нА (15 шагов);
- Режим подавления дрейфа по умолчанию для непроводящих образцов;
- Разрешение: 7.0 нм на 30 кВ.
Вакуумная система:
- Полностью безмасляная вакуумная система в микроскопе;
- 1х турбомолекулярный насос с турборегулятором, 240 л/с;
- 1х спиральный насос;
- 3х геттеро-ионный насос, 25 л/с;
- Дополнительный роторный насос для теплообменника;
- Сухой мембранный насос для станции подготовки;
- Вакуум в камере с образцом при комнатной температуре: <4e-4 Па;
- Вакуум в камере в криоусловиях: <6e-5 Па.
Крио-столик:
- Фиксированный вращающийся криостолик;
- Вращение: 360° (бесконечно);
- Компуцентрическое вращение и наклон;
- Время, необходимое для полного охлаждения: <30 минут;
- Диапазон перемещения по осям XY: 110 мм;
- Диапазон перемещения по оси Z: 65 мм;
- Диапазон наклона в крио-режиме (эуцентрическое рабочее расстояние): от -15° до +55°.
Особенности процесса получения изображений:
- Диапазон выдержки от 25 нс до 25 мс/пиксел;
- Разрешение до 6144×4096 пикселов (до 64k с использованием ПО MAPS);
- Тип файлов: TIFF (8, 16, 24-бит), BMP или JPEG;
- Вращение при электронном сканировании: 360°;
- Система Thermo Scientic SmartSCANTM (усреднение или интегрирование по 256 кадрам);
- Система компенсации дрейфа DCFI (Drift Compensated Frame Integration).
Система:
- 64-бит Windows 7, клавиатура, мышь;
- До четырех изображений разных пучков или сигналов в реальном времени;
- 3×24″ широкоэкранных монитора с разрешением 1920×1200 пикселов;
- Мультифункциональная контрольная панель.
Программное обеспечение:
- Концепция графического интерфейса «Beam per view», суть которой заключается в наличии четырех активных квадрантов с разными данными одновременно;
- ПО Thermo Scientic SPI™ (одновременное травление ионным пучком с контролем изображения в СЭМ);
- ПО Thermo Scienti c iSPI™ (последовательная съемка в СЭМ и травление ионным пучком);
- ПО Thermo Scienti c iRTM™ software (Интегрированный мониторинг в реальном времени) и несколько режимов иммерсии ионного пучка для продвинутой работы СЭМ и электронной пучка;
- Поддерживаемые паттерны: прямоугольник, линия, круг, очистка, кросс-секционирование, регулярное кросс-секционирование, многоугольник, bitmap, stream file, зоны исключения, массивы;
- Навигация по образцу на оптическом изображении;
- Функции Undo / Redo.