Rigaku продолжает серию вебинаров TOPIQ, освещающую различные аспекты использования аналитического оборудования и программного обеспечения Rigaku для решения широкого спектра научно-исследовательских задач. Очередной выпуск, регистрация на который уже открыта, посвящён исследованию кристаллических дефектов полупроводников с помощью рентгеновской топографии и будет доступен 7 июля.