Спектрометр EDAX Orbis Micro-XRF
Чувствительная и гибкая система для элементного анализа.
Спектрометры EDAX серии Orbis Micro-XRF являются результатом более десяти лет инновационных работ и обобщения богатого опыта, накопленного за это время. Для возможности решать широкий спектр аналитических задач эти настольные приборы доступны как с моно-капиллярной рентгеновской оптикой, так и с поли-капиллярной оптикой ультра-высокой интенсивности. Системы Orbis легко управляются, обладают большим количеством улучшающих производительность особенностей и разработаны для исследования образцов различных типов и формы. Источники рентгеновского излучения, оптика и детекторы гарантированно обеспечивают пользователя данными превосходного качества. Программное обеспечение Orbis Vision приспособлено для решения как рутинных, так и сложнейших нестандартных задач.
Ключевые особенности и преимущества:
- Неразрушающий анализ образцов при минимальной пробоподготовке, возможность работы в режимах низкого вакуума и условиях окружающей среды;
- Большая вакуумная камера для образцов и большая рабочая дистанция позволяют исследовать широкий спектр образцов со сложной топографией без каких-либо потерь интенсивности сигнала;
- Уникальная моторизированная головка с интегрированной видео- и рентгеновской оптикой предоставляет возможность проводить коаксиальный рентгеновский анализ и получать оптическую информацию об образце для его максимально точного позиционирования, опциональные 1 мм и 2 мм коллиматоры рентгеновской оптики способствуют достижению максимальной аналитической гибкости;
- Программно выбираемая и управляемая система фильтрации пучка из шести фильтров обеспечивает повышенную чувствительность анализа и удаляет спектральные артефакты;
- Программное обеспечение Orbis Vision обладает возможностью хранения данных и управления системой и позволяет решать широкий круг задач по количественной и качественной характеристике образцов.
Промышленность
- Исследование распределения металла в керамических катализаторах.
Система Orbis PC была использована для картирования распределения палладия в экструдированной грануле оксида аллюминия. Для ограничения глубины анализа использовалась линия Pd (L). Стандартные методы визуализации показывают, что палладий преимущественно содержался в виде оболочки на поверхности гранулы. Однако, специализированное масштабирование изображения, проведённое с помощью программного обеспечения EDAX, позволило выявить содержание палладия в ядре гранулы, которое не было обнаружено предыдущим тестом из-за значительной разницы в концентрации элемента в ядре гранулы и в её оболочке.
- Измерение содержания тяжёлых элементов в продукции для соответствия требованиям RoHS.
Анализ содержания ограниченных и / или запрещённых к распространению материалов и химических элементов в различной продукции становится крайне важным направлением. Европейский закон, в той или иной фирме принятый очень многими странами, запрещает использование ртути, свинца, кадмия, шестивалентного хрома и брома в бытовой электронике и других приборах. Микро-XRF анализ позволяет определить уровень содержания Hg, Pb и Cd, и оценить компоненты со значительным содержанием Cr и Br, которые должны отправиться на дополнительные анализы. Представленный пример иллюстрирует результат картирования печатной платы, свидетельствующий об использовании припоя, содержащего свинец.
Неразрушающий анализ
Исследование метеоритов.
Для достижения понимания о строении метеорита «Odessa» — внеземного объекта, попавшего на нашу планету десятки тысяч лет назад — была изучена (с проведением элементного картирования) большая область его сечения.
- Габариты системы (Высота Х длина Х ширина) : 910 мм Х 720 мм Х 500 мм;
- Габариты камеры для образцов: Диаметр: 360 мм, глубина : 310 мм; возможно размещение образца с габаритами до 270 мм Х 270 мм Х 100 мм;
- Диапазон измеряемых элементов: от Na до Bk;
- Источник возбуждения: рентгеновская трубка с боковым окном, материал анода — Rh (опционально доступны W, Mo, Cr);
- Параметры трубки: напряжение от 10 до 50 кВ, меняется с шагом в 1 кВ; сила тока от 0,05 до 1 мА, меняется с шагом в 5 мкА;
- Программно управляемый набор фильтров пучка;
- SDD-детектор с активной площадью 30 квадратных миллиметров (опционально — 50 кв. мм.), разрешение ≤135 эВ при 30 000 отсчётах в секунду;
- Параметры электросети питания: напряжение от 90 до 260 В с частотой 47-63 Гц.