Дифрактометр с двухленточным анодом Rigaku XtaLAB Synergy-DW

Rigaku Oxford Diffraction Дифрактометр Rigaku XtaLAB Synergy-DW купить в Техноинфо

Дифрактометр с двухленточным анодом, двойной многослойной оптикой и простым механизмом переключения длины волны.



Этот дифрактометр с высокой плотностью потока отличается гибкостью благодаря возможности выбора одного из нескольких фиксированных значений длины волны, подходящего для планируемого эксперимента. Вместо двух встроенных источников рентгеновского излучения с разными мишенями дифрактометры XtaLAB Synergy DW оснащаются двухленточным анодом, двойной многослойной оптикой и простым механизмом переключения длины волны.

  • Выпускаются модели с различными комбинациями материалов анода.
  • Переход от одного типа анода к другому легко осуществляется в течение нескольких минут.


  • Размеры: 130,0 (ширина) x 187,5 (высота) x 85,0 (глубина) см
  • Масса: 600 кг
  • Требования к питанию: 1Ø, 200-230 В, 20 А

Явление дифракции рентгеновских лучей на кристаллах открыт Лауэ, теоретическое обоснование явлению дали Вульф и Брэгг (условие Вульфа-Брэгга). Как метод, рентгеноструктурный анализ разработан Дебаем и Шеррером. Метод позволяет определять атомную структуру вещества, включающую в себя пространственную группу элементарной ячейки, ее размеры и форму, координаты позиций атомов, степень заселённости этих позиций, и некоторые специфические свойства тех или иных групп атомов в элементарной ячейке. Рентгеноструктурный анализ и по сей день является самым распространенным методом определения структуры вещества в силу его простоты и относительной дешевизны.