Микрофокусная система XtaLAB Synergy
Новейшая микрофокусная система, предоставляющая возможность по сбору данных лучшего качества за меньшее время.
С максимальной эффективностью используя возможности самого передового оборудования в связке с новым программным обеспечением, система XtaLAB Synergy предоставляет возможность получения точнейших данных в кратчайшие сроки.
В основе системы XtaLAB Synergy находятся новейшие микрофокусные источники PhotonJet. Эти источники третьего поколения были разработаны с целью максимального повышения эффективности, и эта цель была достигнута за счёт комбинации в них новой оптики, рентгеновских трубок с увеличенным сроком службы, и улучшенной системы центровки. Благодаря возможности выбора трубки (Cu, Ag или Mo) и создания различных их комбинаций (существуют модификации системы XtaLAB Synergy как с одним, так и с двумя источниками) круг задач, который вы можете решить с использованием этого дифрактометра, очень широк.
Новый каппа-гониометр был полностью переделан и теперь объединяет высокоскоростной мотор с уникальной телескопической 2Ɵ-осью, обеспечивая максимальную гибкость при проведении дифракционных экспериментов. Гониометр совместим с широчайшим спектром детекторов - вы можете создать именно такую конфигурацию системы, которая полностью удовлетворяет вашим потребностям.
Особенности и преимущества системы XtaLAB Synergy:
- Значительное улучшение качества данных и сокращение времени их получения по сравнению с предыдущими системами, использующими микрофокусные запаянные трубки;
- Уникальная телескопическая 2Ɵ-ось, увеличивающая возможности по контролю расстояния "образец-детектор";
- Улучшенный дизайн каппа-гониометра с симметричным 2Ɵ-позиционированием;
- Контролируемое расстояние "образец-детектор" позволяет с исключительной точностью произвести измерения различных образцов;
- Сочетание новейших источников и увеличенной скорости гониометра позволяет проводить эксперименты с повышенной скоростью и гибкостью;
- Широчайший круг совместимых детекторов;
- Минимальное время простоя: увеличенный срок службы источника и поддержка в режиме онлайн;
- Упрощённое техническое обслуживание;
- Вдохновлённый пользователями дизайн рабочей кабины;
- Электронный контроль над освещённостью кабины и подсветкой образца.
Явление дифракции рентгеновских лучей на кристаллах открыт Лауэ, теоретическое обоснование явлению дали Вульф и Брэгг (условие Вульфа-Брэгга). Как метод, рентгеноструктурный анализ разработан Дебаем и Шеррером.Метод позволяет определять атомную структуру вещества, включающую в себя пространственную группу элементарной ячейки, ее размеры и форму, координаты позиций атомов, степень заселённости этих позиций, и некоторые специфические свойства тех или иных групп атомов в элементарной ячейке. Рентгеноструктурный анализ и по сей день является самым распространенным методом определения структуры вещества в силу его простоты и относительной дешевизны.