Двухосный Z-PHI столик для образца
Двухосный столик для образца позволяет осуществлять выравнивание поверхности образца при измерениях.
Двухосный столик для образца выравнивает поверхность образца по центру первичного рентгеновского пучка в автоматическом режиме и является обязательным аксессуаром при проведении следующих типов измерений:
1. Дифрактометрия при скользящем падении (GIXRD)
2. Рефлектометрия (XRR)
3. Определение остаточных напряжений по методу sin2ψ
4. Измерение текстуры в геометрии iso-inclination
5. Определение ориентации монокристаллов
Аксессуар для порошкового дифрактометра Powdix 600 и PRO.
Арт. 30.01.100.
- Максимальная масса образца: 1 кг;
- Максимальный размер образца: 70 мм (ширина)×13 мм (высота);
- Максимальный ход по оси Z: 13 мм;
- Минимальный шаг перемещения по оси Z: 0,625 мкм;
- Минимальный шаг вращения по углу Phi: 0,002°.