Skip

Orbis Micro-XRF



Чувствительная и гибкая система для элементного анализа.

запросить коммерческое предложение...запросить сервисную поддержку...

Спектрометры EDAX серии Orbis Micro-XRF являются результатом более десяти лет инновационных работ и обобщения богатого опыта, накопленного за это время. Для возможности решать широкий спектр аналитических задач эти настольные приборы доступны как с моно-капиллярной рентгеновской оптикой, так и с поли-капиллярной оптикой ультра-высокой интенсивности. Системы Orbis легко управляются, обладают большим количеством улучшающих производительность особенностей и разработаны для исследования образцов различных типов и формы. Источники рентгеновского излучения, оптика и детекторы гарантированно обеспечивают пользователя данными превосходного качества. Программное обеспечение Orbis Vision приспособлено для решения как рутинных, так и сложнейших нестандартных задач.

Ключевые особенности и преимущества:

  • Неразрушающий анализ образцов при минимальной пробоподготовке, возможность работы в режимах низкого вакуума и условиях окружающей среды;
  • Большая вакуумная камера для образцов и большая рабочая дистанция позволяют исследовать широкий спектр образцов со сложной топографией без каких-либо потерь интенсивности сигнала;
  • Уникальная моторизированная головка с интегрированной видео- и рентгеновской оптикой предоставляет возможность проводить коаксиальный рентгеновский анализ и получать оптическую информацию об образце для его максимально точного позиционирования, опциональные 1 мм и 2 мм коллиматоры рентгеновской оптики способствуют достижению максимальной аналитической гибкости;
  • Программно выбираемая и управляемая система фильтрации пучка из шести фильтров обеспечивает повышенную чувствительность анализа и удаляет спектральные артефакты;
  • Программное обеспечение Orbis Vision обладает возможностью хранения данных и управления системой и позволяет решать широкий круг задач по количественной и качественной характеристике образцов.

Промышленность


  • Исследование распределения металла в керамических катализаторах
Система Orbis PC была использована для картирования распределения палладия в экструдированной грануле оксида аллюминия. Для ограничения глубины анализа использовалась линия Pd (L). Стандартные методы визуализации показывают, что палладий преимущественно содержался в виде оболочки на поверхности гранулы. Однако, специализированное масштабирование изображения, проведённое с помощью программного обеспечения EDAX, позволило выявить содержание палладия в ядре гранулы, которое не было обнаружено предыдущим тестом из-за значительной разницы в концентрации элемента в ядре гранулы и в её оболочке.

61a506a459d38434cb3c328d0401f757.png

  • Измерение содержания тяжёлых элементов в продукции для соответствия требованиям RoHS
Анализ содержания ограниченных и / или запрещённых к распространению материалов и химических элементов в различной продукции становится крайне важным направлением. Европейский закон, в той или иной фирме принятый очень многими странами, запрещает использование ртути, свинца, кадмия, шестивалентного хрома и брома в бытовой электронике и других приборах. Микро-XRF анализ позволяет определить уровень содержания Hg, Pb и Cd, и оценить компоненты со значительным содержанием Cr и Br, которые должны отправиться на дополнительные анализы. Представленный пример иллюстрирует результат картирования печатной платы, свидетельствующий об использовании припоя, содержащего свинец.

a98dc42a296a22eaedb35a295686eda9.png

Неразрушающий анализ

  • Исследование метеоритов
Для достижения понимания о строении метеорита «Odessa» - внеземного объекта, попавшего на нашу планету десятки тысяч лет назад - была изучена (с проведением элементного картирования) большая область его сечения.

08c7d16bdcca8854fbca278732a36330.png


Габариты системы (Высота Х длина Х ширина) : 910 мм Х 720 мм Х 500 мм

Габариты камеры для образцов: Диаметр: 360 мм, глубина : 310 мм; возможно размещение образца с габаритами до 270 мм Х 270 мм Х 100 мм

Диапазон измеряемых элементов: от Na до Bk

Источник возбуждения: рентгеновская трубка с боковым окном, материал анода - Rh (опционально доступны W, Mo, Cr)

Параметры трубки: напряжение от 10 до 50 кВ, меняется с шагом в 1 кВ; сила тока от 0,05 до 1 мА, меняется с шагом в 5 мкА

Программно управляемый набор фильтров пучка

SDD-детектор с активной площадью 30 квадратных миллиметров (опционально - 50 кв. мм.), разрешение ≤135 эВ при 30 000 отсчётах в секунду

Параметры электросети питания: напряжение от 90 до 260 В с частотой 47-63 Гц