Skip

Heliscan



Передовая система микротомографии для количественного анализа пород-коллекторов.

запросить коммерческое предложение...запросить сервисную поддержку...

HeliScan- передовая система компьютерной микротомографии с технологией винтового сканирования, предназначенная специально для нефтегазовой промышленности. Являясь частью многомасштабной системы формирования изображений, HeliScan позволяет ученым и инженерам проникать вглубь неоднородностей пласта-коллектора и моделировать свойства потока флюидов.

ffb4bed8d2bb4e4ee64e00ebfc3657ba.png

Ключевые преимущества:

  • Точность сегментации, регистрации и моделирования коллекторных систем: единственная система компьютерной микротомографии, предназначенная специально для количественного анализа высококачественных изображений с точными геометрическими характеристиками.
  • Простота в использовании и надежность: Система оптимизирована для многопользовательского окружения, имеет современные функциональные возможности для опытных пользователей; определённые компоненты обеспечивают функциональную и эксплуатационную надежность.
  • Более быстрое получение данных с отличной репрезентативностью: Высочайшее отношение сигнал/шум в сочетании с технологией винтового сканирования с большим конусным углом и такими запатентованными методами, как Autofocus (автоматическая фокусировка) и Drift Correction (поправка на смещение нуль-пункта).
  • Повышенная статистическая релевантность: Более качественные, по сравнению с полученными при последовательном сканировании отдельных участков, данные по изучению больших образцов за счёт отсутствия артефактов.
  • Настраиваемые и динамичные исследования in situ: Проходные порты и настраиваемые столики и кабина составляют гибкую и открытую платформу, на которой легко монтируются датчики температуры и давления.

Высокопроизводительный и высококачественный анализ: высокоскоростное и эффективное сканирование репрезентативных объемов позволяет получать исходные данные, готовые к сегментации, что сокращает время на цифровую обработку.
Система компьютерной микротомографии HeliScan была создана партнерами FEI Company из Австралийского национального университета (ANU) в 2010 года для их исследовательского консорциума, занимающегося проблемой формирования цифровых изображений пород. Физики ANU разработали уникальную систему рентгеновской томографии, позволяющую с высоким разрешением получать высокоточные трехмерные изображения с геометрическими параметрами, достаточно точными для количественного анализа. Отталкиваясь от впечатляющих результатов этой качественно новой технологии, компания FEI адаптировала систему компьютерной микротомографии HeliScan к нефтегазовой промышленности. Сохраняя истинную микроструктуру породы в сочетании с формированием изображений с самым высоким отношением сигнал/шум среди всех, которые предлагает рынок компьютерной микротомографии, наша система представляет собой идеальное решение проблемы количественного анализа пород-коллекторов.

Многомасштабное определение характеристик и анализ пласта-коллектора

Процессы на поровом уровне определяют физико-химические свойства системы коллекторов. Понимание этих механизмов - это ключ к повышению качества оценки пласта-коллектора, определению его характеристик, оптимизации разработки и прогнозированию эксплуатационных характеристик. Двух- и трехмерная микроскопия обеспечивает прямой анализ внутренней структуры и неоднородности пласта-коллектора. Интегрируя массивы данных HeliScan с автоматизированной минералогической системой QEMSCAN®, сканирующей электронной микроскопией с нанометрическим разрешением (SEM) и фокусированным ионным пучком (FIB), изображениями FIB-SEM, компании-операторы, организующие и проводящие съемку и разработку месторождений, и научно-исследовательские институты могут лучше понимать и предсказывать процессы, протекающие в нефтяных и газовых пластах-коллекторах.
​Источник рентгеновского излучения​20-160 кВ, мощность 8 Вт
​Детектор рентгеновского излучения​3072 x 3072 пикселей, 16 бит, плоская панель
​Пространственное разрешение*​800 нм
​Номинальное разрешение**​170 нм
​Диаметр образца​0,5-240 мм
​Загрузка​7.5 кг
​Столик для образцов
​Диапазон Y​400 мм
​Диапазон Z​100 мм
​Диапазон R​360 градусов, непрерывный


* 2D пространственное разрешение
** Расстояние между объектами (не пустотами), которые можно идентифицировать на изображении независимо друг от друга