Skip

PPMS AFM



Атомно-силовой микроскоп высокого разрешения

запросить коммерческое предложение...запросить сервисную поддержку...

Данный АСМ (Атомно-силовой микроскоп) высокого разрешения с диаметром менее 25 мм был разработан, чтобы идеально подходить к системе СИФС® (Система измерения физических свойств) компании Quantum Design. Она предлагает все общепринятые режимы измерения, такие как контактный режим и перемежающийся контактный режим, плюс контролируемый системой автоподстройки частоты истинно бесконтактный режим, и режим МСМ высокого разрешения. Объединение АСМ с системой СИФС® обеспечивает исследователя разносторонним средством отображения в наномасштабе, в условиях различных температур и магнитных полей. Широкий интервал температур 4–400 K и доступные параметры магнитного поля вплоть до 16 Тл предвещают захватывающие новые исследования фазовых переходов, сверхпроводников, тонких магнитных пленок, двумерных электронных газов, и т.п.

Программа ScanDirector предоставляет интуитивно понятную операционную среду на базе Windows для управления ScanEngine, системой защиты от сбоев в режиме реального времени, которая контролирует контуры обратной связи и отсканированные изображения. Непосредственный доступ и максимальная видимость всех сигналов и параметров дают возможность полного контроля, и еще пользовательский интерфейс остается простым и понятным. Цветовое кодирование полей помогает направить внимание пользователя на важные параметры.

Главное окно содержит три элемента управления с обратной связью «z-контроль», «Амплитудный контроль», и «Система автоподстройки частоты», которые можно сконфигурировать для любого общепринятого статического или динамического режима АСМ, плюс истинно бесконтактного режима и режима МСМ высокого разрешения.

Окно «Развертка по частоте» демонстрирует высококачественный фактор консоли в вакууме. Резонансный пик при 40949,4 Гц имеет ширину 1,5 Гц, что дает в результате показатель добротности 27000.

В окне «Малые горизонтальные проекции» показаны отсканированные изображения 1 µм x 1 µм полей тестовых образцов жесткого диска спереди и сзади. Измерение выполняется в режиме МСМ высокого разрешения.