Skip

Партнеры



FEI

Электронные и ионные микроскопы (SEM, TEM, FIB, Dual Beam) для исследования наноразмерных объектов в различных областях науки, индустрии, электроники.


Электронно-и ионно-лучевые продукты и системы компании FEI являются отраслевыми стандартами превосходного качества и технологических инноваций. Начиная с самого мощного в мире просвечивающего электронного микроскопа (ПЭМ), Titan 80-300, заканчивая настольным сканирующим электронным микроскопом (СЭМ), Phenom, FEI даёт возможность учёным, исследователям, инженерам, преподавателям и студентам открывать новые грани.

Выберите платформу, чтобы изучить полную линейку систем сканирующей электронной микроскопии (СЭМ), просвечивающей электронной микроскопи (ТЭМ), dualbeams (SEM / FIB), и фокусированного ионного пучка (FIB) от компании FEI.