Компания ION TOF GmbH приступила к серийному производству нового времяпролетного масс-спектрометра TOF.SIMS.M6.
Единственный в своем роде, прибор шестого поколения существенно расширяет возможности и точность химического микроанализа.
Новая висмутовая ионная пушка гарантирует разрешение в 50 нм на твердотельных образцах.
Химическая чувствительность увеличилась на два порядка за счет использования новейшего времяпролетного анализатора, дополненного технологиями MS/MS и Orbitrap. Появилась возможность комплектования прибора интегрированным атомно- и магнитно-силовым микроскопом, кислородной кластерной пушкой, модулем торможения/ускорения ионного пучка.