28.09.2026
Представляем новую разработку — Scietex EBIC System компании ООО «Научные технологии и сервис». Это измерительная система для регистрации тока, индуцированного сфокусированным электронным пучком (Electron Beam Induced Current, EBIC). Система интегрируется непосредственно в электронный микроскоп.
Система обеспечивает:
- выявление электрически активных дефектов (дислокаций, границ зерён, областей рекомбинации);
- исследование топографии, однородности и рабочих характеристик p–n-переходов;
- картирование неоднородностей удельного сопротивления и диффузионной длины неосновных носителей.
Заказать систему можно уже сейчас, пишите на почту em.sales@technoinfo.ru или заполняйте заявку на страничке Scietex EBIC System.