Почему стоит принять участие в наших вебинарах?
- Участники вебинаров получат практический разбор оборудования и методик в области электронной микроскопии.
- Увидят демонстрацию возможностей SEM и TEM на реальных примерах;
- Получат экспертные рекомендации по выбору конфигураций, актуальную информацию о доступных решениях на рынке России
- Получат возможность задать вопросы специалистам и получить адресные ответы.
26 февраля 2026 | 11:00 (МСК) Расскажем об особенностях оборудования из нашего каталога от пробоподготовки, настольных решений до систем высокого разрешения с полевой эмиссией (FEG) и специализированных микроскопов для анализа критических размеров в микроэлектронике.
Обзор портфолио: решения для биологии, материаловедения, геологии и контроля критических размеров в микроэлектронике.
Собственное производство: презентация систем напыления металлов/углерода серии C156 и систем активации поверхности GD156 от компании ООО «Научные технологии и сервис»
Спикеры: Ольга Соколова (Директор по продажам), Дарья Стельмах (Специалист отдела продаж).
2. DLTS, Van der Pauw, QCM: золотой набор методов для исследования полупроводников, тонких плёнок и наноструктур
12 марта 2026 | 11:00 (МСК)
Глубокое погружение в диагностику полупроводниковых структур.
Новые продукты для DLTS-спектрометрии.
Измерения методом Ван-дер-Пау и современные толщиномеры.
Эксклюзив: Анонс живой демонстрации систем на выставке «Аналитика Экспо».
Спикер: Антон Бондаренко (Технический директор).
3. Просвечивающая электронная микроскопия Scietex — новые TEM в России
26 марта 2026 | 11:00 (МСК)
Просвечивающая электронная микроскопия (TEM) и современные решениям Scietex, доступные для российских лабораторий.
Спикер: Ольга Соколова (Директор по продажам).
Ознакомиться с полным описанием программы можно на сайте scietex.ru