В рамках первого ежегодного симпозиума кристаллографии и рентгеновской дифракции, организованного корпорацией Rigaku совместно с Универсетитом штата Флорида (Таллахасси, США) был проведён семинар по методам рентгеноструктурного анализа. Мероприятие проводилось 24-25 января в лаборатории химических наук факультета химии и биохии Университета.
Тема семинара охватывала методы как монокристаллической, так и порошковой дифракции рентгеновских лучей. Как хорошо известно, дифракция рентгеновских лучей на монокристаллах позволяет получить данные о трёхмерной кристаллической и молекулярной структуре вещества. Для понимания структурных свойств материалов, которые не могут быть получены в виде монокристаллов соответствующего размера и качества, достаточного для проведения рентгеноструктурного исследования, возможно определение структуры по данным порошковой дифракции.
В рамках семинара были представлены устные и стендовые доклады, а также проведены практические занятия под руководством научных сотрудников Rigaku. Посетителям семинара была предоставлена возможность ознакомиться с настольными дифрактометрами XtaLAB mini II и MiniFlex шестого поколения. Были представлены возможности последней версии CrysAlis Pro — программного обеспечения для сбора и обработки дифрактционных данных, разрабатываемого сотрудниками Rigaku. Кроме того, был представлен монокристальный рентгеновский дифрактометр XtaLAB Synergy-S — одна из лучших систем на сегодняшний день для исследования кристаллической и молекулярной структуры малых молекул.