Компания Xenocs опубликовала новую статью, посвященную применению метода малоуглового рентгеновского рассеяния для быстрого и надежного определения удельной площади поверхности образца порошка SiO2
Удельная площадь поверхности является особенно важным физическим свойством твердых тел. Она определяется как общая площадь поверхности материала на единицу массы и зависит от размеров частиц, а также от структуры и пористости материала. Наиболее часто используемая методология определения удельной поверхности основана на анализе газовой адсорбции (обычно с использованием азота, аргона или криптона) с использованием метода Брунауэра-Эммета-Теллера (BET). Однако, этот метод имеет определенные ограничения.
Малоугловое рентгеновское рассеяние (SAXS) дает возможность определять удельную площадь поверхности систем с наночастицами, а также нанопористых материалов с открытыми или закрытыми порами или включениями, если существует достаточный контраст электронной плотности между матрицей и наполнителем. Кроме того, требования к подготовке образца минимальны, а время измерения, как правило, короче, чем при использовании метода BET.
Прочитать статью целиком (на английском языке) вы можете на сайте компании Xenocs.
