[:ru]
Регулярная новостная рассылка наших партнёров- компании Xenocs, описывающая последние достижения компании.
[:en]
Регулярная новостная рассылка наших партнёров- компании Xenocs, описывающая последние достижения компании.
[:]
[:ru]
Одновременные SAXS и WAXS измерения in-situ
Растущий интерес пользователей к проведению одновременных исследований SAXS и WAXS in-situ не остался незамеченным компанией Xenocs. Разумеется, проведение экспериментов на синхротроне остаётся необходимым для изучения быстрых (секунда и меньше) процессов, но значительную часть наблюдений с выдержкой от секунды до первых минут можно проводить и в лабораториях. Последние разработки в области HPAD-детекторов и источников рентгеновского излучения позволяют проводить такие наблюдения. Бесшовная интеграция новых технологий в системах Xeuss 2.0 и Nano-inXider позволяют проводить сбор данных одновременно по малоугловому и широкоугловому рассеянию без изменения расстояния «источник-приёмник».
Ниже вы можете увидеть пример SWAXS измерений in-situ- изучение фазового перехода P(VDF-TrFE) плёнки при первом нагреве выше температуры Кюри. Измерения этого электроактивного полимера были произведены на системе Xeuss 2.0 совместно компаниями Piezotech-Arkema и ESPCI Paris.
In-situ SWAXS measurement of a 20 μm thick solvent cast film of P(VDF-TrFE) during a temperature cycle with heating from 25°C to 130°C (above Curie transition) and then cooling down to ambient as shown on left part of the graph. X-ray exposure is 1 min and heating/cooling rate is 1 °C/min.
[:en]
Одновременные SAXS и WAXS измерения in-situ
Растущий интерес пользователей к проведению одновременных исследований SAXS и WAXS in-situ не остался незамеченным компанией Xenocs. Разумеется, проведение экспериментов на синхротроне остаётся необходимым для изучения быстрых (секунда и меньше) процессов, но значительную часть наблюдений с выдержкой от секунды до первых минут можно проводить и в лабораториях. Последние разработки в области HPAD-детекторов и источников рентгеновского излучения позволяют проводить такие наблюдения. Бесшовная интеграция новых технологий в системах Xeuss 2.0 и Nano-inXider позволяют проводить сбор данных одновременно по малоугловому и широкоугловому рассеянию без изменения расстояния «источник-приёмник».
Ниже вы можете увидеть пример SWAXS измерений in-situ- изучение фазового перехода P(VDF-TrFE) плёнки при первом нагреве выше температуры Кюри. Измерения этого электроактивного полимера были произведены на системе Xeuss 2.0 совместно компаниями Piezotech-Arkema и ESPCI Paris.
In-situ SWAXS measurement of a 20 μm thick solvent cast film of P(VDF-TrFE) during a temperature cycle with heating from 25°C to 130°C (above Curie transition) and then cooling down to ambient as shown on left part of the graph. X-ray exposure is 1 min and heating/cooling rate is 1 °C/min.
[:]