Сканирующие электронные микроскопы (SEM)

Каталог систем сканирующей электронной микроскопии для исследования строения и состава широкого класса веществ с помощью сфокусированного электронного пучка.

Просвечивающие электронные микроскопы (TEM)

Каталог систем просвечивающей электронной микроскопии для анализа структуры и состава материала с атомарным разрешением. Заказать просвечивающие электронные микроскопы (TEM) в компании ТехноИнфо

Двулучевые Системы (SEM/FIB)

Каталог двулучевых электронных и ионных микроскопов для проведения исследований с высоким разрешением. Заказать двулучевые системы FIB/SEM в компании ТехноИнфо.

Системы фокусированного ионного пучка (FIB)

Каталог систем фокусированного ионного пучка (FIB). Заказать системы фокусированного ионного пучка (FIB)

Решения для геологии

Специализированные микроскопы, созданные для решения задач рудной геологии и геологического сопровождения работ по добыче МПИ.

Программное Обеспечение (SW)

Автоматизация рутинных и трудоемких аналитических методов электронной микроскопии