Рамановский FLIM микроскоп XperRF

Рамановский FLIM микроскоп XperRF (Nanobase)

XperRF — это первый в мире рамановский FLIM микроскоп, предназначенный для расширенного анализа материалов. Принцип «два в одном» сочетает модуль рамановской спектроскопии и модуль измерения TRPL для определения характеристик материалов.



XperRF сочетает все функции XperRAM-S и Xper-FLIM, включая высокопроизводительный спектрометр и детектор, а также электронику TCSPC и набор Picosecond pulsed diode laser driver, поставляемого PicoQuant.

Ключевые особенности:

  • возможность измерения спектров различного типа в одном приборе;
  • сменные и вращающиеся VPH (объемные голографические дифракционные решетки);
  • быстрое сканирование с пьезосканером на большой площади 200 x 200 мм без перемещения образца;
  • возможность 3D рамановского и FLIM анализа.

XperRF позволяет:

  • Получать рамановские спектры
  • Проводить рамановское картирование
  • Снимать фотолюминесценцию и электролюминесценцию
  • Работать с фотолюминесценцией с временным разрешением (TRPL) и FLIM

Существует широкий спектр приложений, в которых вы можете использовать данные комбинационного рассеяния и TRPL — от биологических/медицинских исследований до анализа эффективности солнечных элементов.