Skip

Исследование структуры и химического состава

Оборудование для монокристальной рентгеновской дифракции

Каталог систем для монокристальной рентгеновской дифракции. Заказать дифрактометры и оборудование для исследования структуры и химического состава в компании ТехноИнфо

Системы малоуглового и широкоуглового рассеяния рентгеновских лучей

Каталог систем для исследования методом малоуглового и широкоуглового рассеяния рентгеновских лучей. Заказать системы для saxs/waxs исследований в компании ТехноИнфо

Оптическая спектроскопия

Каталог оборудования для спектроскопии оптической: спектрометры, электроника и детекторы для счета фотонов. Заказать системы спектроскопии оптической в компании ТехноИнфо

PPMS AFM

Производство: ION-TOF

Атомно-силовой микроскоп высокого разрешения

Energy Dispersive X-ray Spectroscopy (EDS)

Производство: EDAX

TEAM™ EDS Analysis System featuring Apollo XLT SDD Series provides the ultimate analytical solution for transmission electron microscope (TEM). The systems are offered for TEMs and STEMs with Smart Features to make them more intuitive and easier to use.

Electron Backscatter Diffraction (EBSD)

Производство: EDAX

EDAX’s TEAM™ EBSD Analysis System is the most comprehensive system available for analyzing crystalline microstructures. The solution obtains crystallographic orientation, grain-boundary character, and phase-distribution information from single and polyphase crystalline materials through the collection and analysis of Electron Backscatter Diffraction (EBSD) patterns in a scanning electron microscope (SEM). TEAM™ EBSD Analysis System combines the ease of use of the TEAM™ software platform with the analytical power of OIM™ to provide state of the art crystal structure characterization to all users.

Wavelength Dispersive X-ray Spectrometry (WDS)

Производство: EDAX

The TEAM™ WDS Analysis System pairs TEAM™ software with a parallel beam WDS spectrometer. To complement EDS analysis for light element work, or where elemental overlaps cause serious problems, the microanalyst often employs a wavelength dispersive X-ray spectrometer (WDS). The improved resolution and higher sensitivity of WDS deconvolutes peak overlaps and effectively exposes trace elements, providing the user with a clear picture of sample chemistry. Both qualitative and quantitative analyses can be run.

HR-MFM

Производство: ION-TOF

ВР-МСМ является ключевым инструментом улучшения современной технологии производства жестких дисков, и она оптимизирована для исследовательских отделов и опытно-конструкторских отделов индустрии запоминающих устройств. В исследовательских центрах и университетах она является непревзойденным инструментом для анализа структур поверхности и описания новых магнитных материалов и тонкопленочных технологий, например магнитных квантовых точек и слоистых наноструктур для приложений магнитной и ферроэлектрической ОЗУ.