Skip

Двулучевые Системы (SEM/FIB)

Двулучевые микроскопы FEI DualBeam™ (FIB/SEM) – системы совмещающие в себе электронную и ионную колонны для проведения исследований с высоким разрешением, работы с диэлектриками, манипуляций с микрообъектами - травление, шлифовка, микросварка. Мощный инструмент пробоподготовки для TEM.

Scios™

Производство: FEI

Электронная колонна NiCol с тремя внутрилинзовыми детекторами, высокопроизводительная ионная колонна, автоматическое послойное травление для 3D характеризации, подготовка образцов для TEM.

Aquilos™ Cryo-FIB

Производство: FEI

Электронный двулучевой микроскоп для изготовления ламелей для крио-томографии и прочих крио-приложений

Электронная колонна Elstar FESEM

Производство: FEI

Электронная колонна Elstar FESEM с интегрированным монохроматором (UC) обеспечивает суб-нанометровое разрешение в диапазоне от 1 до 30 кВ. Оптимальна для исследования наноматериалов.

Helios Plasma FIB™

Производство: FEI

Helios PFIB является передовой во всем мире платформой DualBeam с высокой пропускной способностью исследования образцов и 3D характеризации материалов.