Skip

Сканирующие электронные микроскопы (SEM)

Сканирующие электронные микроскопы — категория высокотехнологичного оборудования, предназначенного для исследования строения и состава широкого класса веществ с помощью сфокусированного электронного пучка. Сканирующая (растровая) электронная микроскопия позволяет анализировать как микрообъекты, так и крупноформатные образцы. Одним из ключевых преимуществ SEM является универсальность: дополнив микроскоп приставкой для спектрального анализа, вы сможете превратить компактный прибор в многофункциональную высокоточную исследовательскую систему.

Q250™

Производство: FEI

Сканирующий электронный микроскоп с энергодисперсионным анализатором в комплекте. Гибкое решение для широкого спектра исследовательских задач по доступной цене.

Quattro™

Производство: FEI

Универсальный высокоразрешающий СЭМ с уникальным режимом естественной среды

Apreo™

Производство: FEI

"Рабочая лошадка" с суб-нанометровым разрешением и высочайшей аналитической производительностью.

Verios™

Производство: FEI

Сверхвысокое разрешение во всём диапазоне ускоряющих напряжений.