Skip

Анализ поверхности

Электронная микроскопия

Сканирующая, просвечивающая электронная и ионная микроскопия, двулучевые системы

Вторичная ионная масс-спектрометрия

Время-пролетная вторичная ионная масс-спектрометрия позволяет получать детальную информацию об элементном и молекулярном строении поверхностей, приповерхностных тонких слоях, контактах материалов различных типов, осуществлять комплексный трехмерный анализ образцов.

Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия

Компания Kratos Analytical производит рентгеновские фотоэлектронные спектрометры как для потоковых автоматизированных измерений, так и для реализации современных научных экспериментов.

Рассеяние медленных ионов

Анализ методом рассеяния медленных ионов заключается в бомбардировании поверхности образца ионами инертных газов с энергией в несколько кэВ. Ионы, по закону сохранения энергии и импульса, рассеиваются атомами по поверхности.

Цифровая оптическая микроскопия

В связи со стремительным ростом автоматизации, компания KEYENCE, лидер в производстве сенсоров и систем измерения разрабатывает и производит инновационные микроскопические системы, которые находят применения во всех областях индустрии и научных исследований.