Skip

Вторичная ионная масс-спектрометрия


ToF SIMS 5

Производство: ION-TOF

TOF.SIMS-5 предоставляет детальную информацию об элементном и молекулярном составе поверхности и приповерхностных слоях образца.

Система TOF.SIMS 5 считается «золотым стандартом» в исследовании полупроводниковых и полимерных материалов методом масс-спектрометрии вторичных ионов. Высокопроизводительный спектрометр последнего поколения, разработанный компанией IONTOF, позволяет выполнять анализ поверхностных и приповерхностных слоев практически всех видов образцов и является одним из самых гибких инструментов для ионной масс-спектрометрии в научных и промышленных лабораториях. Компьютерное управление всеми функциями и параметрами оборудования обеспечивает простоту использования и высокий уровень автоматизации процессов во всех областях применения технологии МСВИ.