Skip

Оборудование для рентгеновской электронной спектроскопии



AXIS Supra

Производство: Kratos Analytical

Рентгеновский фотоэлектронный спектрометр, объединяющий в себе передовые характеристики и легкость в работе, обеспеченную новым программным обеспечением ESCApe и автоматизированным трансфером образцов. AXIS Supra является улучшенной и дополненной моделью, которая полностью заменила известный спектрометр AXIS Ultra.

Axis Nova

Производство: Kratos Analytical

Высокоавтоматизированный рентгеновский фотоэлектронный спектрометр AXIS Nova позволяет проводить исследования образцов диаметром до 11 см с превосходным разрешением и отличной чувствительностью.

AMICUS / ESCA 3400

Производство: Kratos Analytical

Компактность и надежность рентгеновского фотоэлектронного спектрометра AMICUS позволяет использовать его для решения максимально широкого спектра задач – от рутинного анализа и до контроля качества на производстве.

Программное обеспечение ESCApe

Производство: Kratos Analytical

Полностью обновленное программное обеспечение ESCApe является последним поколением программного обеспечения для оперативной системы MS Windows, которое осуществляет управление спектрометром, сбор и обработку полученных данных в едином и простом в использовании пакете.

Ионные источники

Производство: Kratos Analytical

Большой выбор ионных источников для построения профилей распределения по глубине элементов и их химических состояний как для неорганических, так и органических образцов.

Источник Кластерных Ионов Аргона (GCIS)

Производство: Kratos Analytical

Источник ионов последнего поколения Источник кластерных ионов аргона (GCIS) компании Kratos позволяет получать превосходные результаты профилирования по глубине с высоким разрешением как для органических материалов в режиме травления кластерами Arn+ так и для неорганических соединений в моноатомном режиме Ar+ .

Компания Kratos Analytical Inc. (Англия), входящая в состав корпорации Shimadzu (Япония), является крупнейшим разработчиком и производителем оборудования для РФЭС высокого разрешения. Мощные спектрометры серии AXIS решают максимально широкий спектр задач по анализу свойств поверхности материалов и плёнок в лабораториях, полупроводниковой индустрии и других наукоемких отраслях промышленности. Оборудование позволяет за считанные минуты получить детальную информацию о химическом и электронном состоянии атомов в поверхностном слое материала, визуализировать распределение элементов по поверхности и по глубине материала (при наличии ионного источника). Многофункциональные исследовательские комплексы, разработанные Kratos Analytical, наряду с РФЭС высокого разрешения позволяют использовать СЭМ, ISS и другие методы анализа. Системы могут комплектоваться модулем оже-спектроскопии и источником ультрафиолетового излучения для реализации метода УФЭС.