Skip

Электронная микроскопия

Сканирующая и просвечивающая, электронная и ионная микроскопия, а также системы фокусированного ионного пучка для исследования поверхности и объема материалов, качественного и количественного элементного анализа методами рентгеновской и электронной спектроскопии

Сканирующая Электронная Микроскопия (SEM)

Анализ формы и состава поверхности на нанометровом уровне

Просвечивающая Электронная Микроскопия (TEM)

Анализ структуры и состава материла с атомарным разрешением

Двулучевые Системы (SEM/FIB)

3D анализ формы и состава, пробоподготовка для TEM, прототипирование наноразмерных устройств

Фокусированный Ионный Пучок (FIB)

Быстрое и точное удаление материала, анализ проблем и отладка микросхем

Решения для геологии

Специализированные микроскопы, созданные для решения задач рудной геологии и геологического сопровождения работ по добыче МПИ.

Программное Обеспечение (SW)

Автоматизация рутинных и трудоемких аналитических методов электронной микроскопии