Лазерный анализатор элементного состава LEA-S500

Лазерный анализатор элементного состава LEA-S500 работает по методу LIBS и является современным мощным атомно-эмиссионным спектральным прибором с многоканальной регистрацией спектра, который позволяет определить элементный (оксидный) состав пробы за считанные минуты. Определяемые элементы от H до U, диапазон измерения от 0.01 ррм до 100%. Масса вещества необходимого для анализа — от 50 нанограмм. Время выполнения многоэлементного анализа с учетом времени пробоподготовки 1-15 минут. Время выполнения 400 анализов по определению однородности материала — около 7 минут. Интуитивно понятное программное обеспечение ATILLA 2 гарантирует полноценное использование прибора с первого дня эксплуатации. Для освоения базовых функций требуется несколько часов и минимум специальных знаний. Двухимпульсный наносекундный лазерный источник возбуждения спектров, благодаря высокой энергетической, пространственной и временной стабильности, обеспечивает максимальную воспроизводимость результатов анализа и низкие пределы обнаружения химических элементов и соединений. Реализуются как дуговой, так и искровой режимы возбуждения спектров. Оригинальный светосильный безабберационный спектрограф с высоким спектральным разрешением обеспечивает получение высококачественных линейчатых спектров излучения. Уникальная система регистрации кратковременных импульсных световых сигналов позволяет достичь рекордно низких пределов обнаружения элементов и линейности концентрационных зависимостей в широком диапазоне, гарантирует точные и достоверные измерения.

В анализаторе элементного состава LEA-S500 источником света для получения атомно-эмиссионного спектра служит плазма вещества анализируемой пробы, образующаяся в результате воздействия на вещество мощных световых импульсов. Установлено, что воздействие на пробу двух последовательных лазерных импульсов (с задержкой по времени, не превышающей время жизни плазмы) обеспечивает существенный рост интенсивности и стабильности интенсивности спектральных линий по сравнению с одноимпульсным режимом возбуждения. Получаемый эффект снижает предел обнаружения элементов, повышает точность измерений и расширяет аналитические возможности прибора за счет появления дополнительных линий с высокой энергией возбуждения. Оригинальный спектрограф с фокусным расстоянием 520 мм с вертикальной симметричной светосильной безабберационной схемой обеспечивает получение высококачественных линейчатых спектров излучения для последующей их аналитической обработки.

Использование в спектральных приборах в качестве системы регистрации цифровых камер с многоэлементными приемниками излучения обусловлено целым рядом преимуществ перед традиционными системами регистрации. Главные из них: возможность одновременной регистрации широкой области спектра; высокое быстродействие, обеспечивающее регистрацию спектров, возбужденных частотными импульсными источниками, что позволяет осуществлять большое количество измерений за единицу времени (в нашем случае 20 раз в секунду); широкая область спектральной чувствительности; низкие собственные темновые сигналы (шумы); широкий динамический диапазон. В качестве приемника излучения в анализаторе элементного состава LEA-S500 применяется многоэлементная система регистрации спектра (цифровая камера 16 бит, c 2048 светочувствительными элементами) с высокой квантовой эффективностью в интервале волн 170-800 нм, высокой чувствительностью (до 1 ppb) и большим динамическим диапазоном — около 12000.

Карта распределения концентрации Ве на поверхности гранита, % Измерено с разрешением 50 мкм, площадь анализа 2х2 мм	Карта распределения концентрации Na на поверхности гранита, % Измерено с разрешением 50 мкм, площадь анализа 2х2 мм

Основные преимущества анализатора элементного состава LEA‑S500:

• Измерение концентрации химических элементов или их соединений в анализируемой пробе с минимальной пробоподготовкой, без изменения агрегатного состояния проб, и без использования дорогостоящих расходных материалов;
• Полный анализ химического состава за одно измерение с высокой чувствительностью и прецизионностью измерений в широком диапазоне концентраций;
• Послойный анализ покрытий, пленок, налетов, коррозий; анализ состава включений, пороков, дефектов; анализ токопроводящих и токонепроводящих материалов; а также анализ проволоки любого диаметра, шариков и цилиндрических деталей;
• Анализ распределения элементов в пробе с шагом от 30 мкм с построением карт распределения элементов по поверхности и глубине;
• Универсальность — прибор не требует переналадки или модернизации для решения различных задач, а также удобство и абсолютная безопасность работы и технического обслуживания.

Области применения анализатора элементного состава LEA‑S500:

• Геология;
• Научные исследования в институтах и учебных лабораториях;
• Добыча и переработка сырья;
• Материаловедение;
• Черная и цветная металлургия;
• Археология;
• Стекольная промышленность;
• Цементная промышленность;
• Производство керамики;
• Защита окружающей среды;
• Полупроводниковая промышленность;
• Строительные материалы;
• Криминалистика;
• Машиностроение;
• Сельское хозяйство (производство кормов, чая и т.п.);
• Медицина;
• Фармакология;
• Сертификация.