J200 LA

Система лазерной абляции с программным обеспечением для обработки полученных данных


Пакет программного обеспечения J200 Data Analysis вместе с прибором J200 LA от Applied Spectra Inc. преобразуют полученную с помощью лазерной абляции информацию в применимые для ваших аналитических приложений данные через простой и понятный пользовательский интерфейс.

Независимо от того, проводите ли вы количественный анализ для сложных образцов, пространственную съемку с  высоким разрешением или быструю съемку для оперативного обнаружения изотопов, прибор J200 LA, работая с вашим ICP-MS (масс-спектрометром с индуктивно-связанной плазмой), предоставит вам наилучшие результаты для решения всех поставленных задач.

Возможности:

  • Быстрое прямое опробование твердых частиц;
  • Отображение элементного/изотопного состава и профилирование глубины образца;
  • Ведущее программное обеспечение для анализа данных для количественного анализа и съемки образца;
  • Расширенный элементный охват и динамический диапазон концентрации доступны с добавленной опцией LIBS на J200 Tandem LA-LIBS;
  • Лучшая методическая поддержка от экспертов мирового класса по масс-спектрометрии с лазерной абляцией и индуктивно связанной плазмой (LA-ICP-MS).

Преимущества:

  • Компактный, модульный дизайн;
  • Автоматическая регулировка высоты отбора проб на неровных поверхностях образца;
  • Оптимизация камеры для образцов для измерений проводимых с помощью ЛА;
  • Высокоточное управление потоком газа;
  • Улучшение визуализации с помощью двойной камеры.

Кроме того, конструкция J200 позволяет опционально добавить три разных детектора LIBS (лазерно-искровой эмиссионной спектрометрии), открывая широкий спектр аналитических возможностей в автономном режиме работы LIBS прибора.